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标题: Multitest满足MEMS性能和成本的新要求 [打印本页]

作者: update 时间: 2010-7-1 10:35
标题: Multitest满足MEMS性能和成本的新要求

近日，半导体晶圆代工公司SensorDynamics推出新的2D和3D陀螺仪MEMS传感器，适用于汽车、医疗和高端消费电子类等领域的广泛应用。SensorDynamics依托Multitest设备在从热到冷的整个环境温度范围内进行MEMS测试和校准。

Multitest MEMS模块只需设置一台设备，就可以进行5 自由度测试，降低了测试成本。器件只需接触一次，就可以使用多个串行激励源进行全面测试和校准。

此外，高端MEMS器件一般容易受到分选机所处环境产生的机械应力及声音噪声的影响。Multitest采用创新的加热解决方案，减少了被测MEMS传感器上的任何噪声，而又不会影响温度性能，满足了SensorDynamics增强精度和减低噪声的要求。

Multitest为传统测试分选机及高并行度条带测试分选机提供MEMS设备。Multitest测试模块提供了杰出的性能、效率和投资回报率。

作者: jackphone 时间: 2010-8-4 22:18
谢谢lz分享。。。。。

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