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标题: 硅片检测显微镜用途 [打印本页]

作者: tuanjie001 时间: 2010-9-16 16:08
标题: 硅片检测显微镜用途
硅片检测显微镜用途
硅片检测显微镜可以观察到肉眼难观测的位错、划痕、崩边等;还可以对硅片的杂质、残留物成分分析.杂质包括: 颗粒、有机杂质、无机杂质、金属离子、硅粉粉尘等，造成磨片后的硅片易发生变花、发蓝、发黑等现象，使磨片不合格. 可以检测太阳能电池硅片的“金字塔” 的微观形貌分布情况,及硅片的缺陷分析的理想仪器。它是太阳能电池硅片生产过程中必不可少的检测仪器之一。
上海长方光学仪器有限公司

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