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标题: CMOS技术将迎来转折点,开始从15nm工艺向立体晶体管过渡 [打印本页]

作者: 乏味    时间: 2010-9-27 10:08
标题: CMOS技术将迎来转折点,开始从15nm工艺向立体晶体管过渡
逻辑LSI的基本元件——CMOS晶体管的发展估计将在2013年前后15nm工艺达到量产水平时迎来重大转折点。将由现行的平面型晶体管向具备三维沟道的立体型晶体管过渡。美国英特尔及台湾台积电(TSMC)等知名半导体厂商均已开始表现出这种技术意向。LSI的制造技术发生巨变之后,估计也会对各公司的微细化竞争带来影响。

元件材料及曝光技术也会出现转折

  “估计一多半的半导体厂商都会在15nm工艺时向FinFET过渡”(英特尔)。“在20nm以后的工艺中,立体晶体管不可或缺”(台积电)。各公司此前从未对现行晶体管技术的界限作出过这样的断言。这是因为各企业认识到现行技术无法解决漏电流増大等问题。另外,各公司目前瞄准11nm以后的工艺,正在开发使用Ge及Ⅲ-V族半导体的高迁移率沟道技术。估计此前主要以硅为对象的材料技术早晚也会迎来重大转变。

  关于对微细化起到关键作用的光刻技术,EUV曝光及EB曝光等新技术正不断走向实用化。目前已相继出现为生产线引进曝光装置并形成15nm以后微细图案的事例。(记者:大下 淳一)


  
22nm以后工艺将成为微细化开发的舞台
各知名半导体厂商已开始正式面向2011年前后开始量产的22nm以后工艺进行微细化开发。估计到15~14nm工艺时逻辑LSI的基本元件——CMOS晶体管将会改为立体构造(a)。光刻技术方面,EUV曝光与EB曝光技术的开发步伐正在加快(b,c)。(图:(b)和(c)为台积电的图片)




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