光电工程师社区

标题: Hinds应力仪---高精度 [打印本页]

作者: g887866 时间: 2010-11-19 17:31
标题: Hinds应力仪---高精度
本帖最后由 g887866 于 2010-11-19 17:33 编辑

美国Hinds成立于1971年，凭借其专利的PEM（光弹变调制）技术研发了高稳定的应力双折射测量系统，具有目前世界上最高的精度，广泛用于玻璃、镜片、激光晶体等行业, 是世界上众多知名企业的指定检测设备, 如果感兴趣的话, 欢迎来电咨询。同时，利用PEM，开发了Stokes偏光计、Muller偏光计、2-MGEM偏光计、Kerr常数测量仪等系统。

高精度应力双折射测量系统

Retardation Range
(延迟范围)
0.005nm to 100+ nm

Retardation Resolution/Repeatability1
(延迟分辨率/重复精度)
0.001nm / ± 0.008 nm

Fast Axis Angle
Resolution/Repeatability1
(快轴角度分辨率/重复精度)
0.01° / ± 0.05°

Measurement Time
(测量时间)
Up to 10 pps

Scan Area
(扫描范围)
Wavelength
150X150mm ~ 2X2m

(光源波长)
632.8nm

Spot Size
(激光光斑大小)
~ 1 mm typical

上海卓克光电科技有限公司(Leo Cai)

www.Zugophotonics.com

021-62562268

Leo.Cai@zugophtonics.com

欢迎光临光电工程师社区 (http://bbs.oecr.com/)