光电工程师社区

标题: [讨论]有源器件的可靠性试验 [打印本页]

作者: yogi 时间: 2003-10-14 18:17
标题: [讨论]有源器件的可靠性试验
根据Bellcore标准，laser module需要做热冲击试验，条件是0C到100C的冲击；但是在温度点上的保持时间5min，如果不用液体冷却，可能温度不能完全渗透，但是这种器件无法进行液体式的热冲击，请问试验如何进行？

作者: shaohui 时间: 2004-2-15 07:27
标题: [讨论]有源器件的可靠性试验
热冲击试验不适用于非密封器件，你需要在仔细推敲一下标准，不明事宜再和我联系

欢迎光临光电工程师社区 (http://bbs.oecr.com/)