光电工程师社区

标题: 畸变测量 [打印本页]

作者: visuangle 时间: 2003-5-15 02:39
标题: 畸变测量

请问变焦系统可以测量畸变吗？

作者: zhouxiaojun 时间: 2003-5-15 08:41
标题: 畸变测量

可以分成中长短来测量不同焦距的畸变。

作者: 刀光剑影 时间: 2003-5-16 04:50
标题: 畸变测量

请问有具体测量畸变的好方法吗

作者: ir2003 时间: 2003-5-19 02:25
标题: 畸变测量

就按畸变的定义来测量就可以！

作者: 华山老妖 时间: 2003-10-10 18:24
标题: 畸变测量

可以参考光学测量二(好象是华北工学院编的比较老的那本)，基本上有二种方法，我测过一些定焦和变焦的，并且进行了畸变校正，效果不错，若有什么问题，可以信箱讨论

作者: simem 时间: 2003-10-13 17:53
标题: 畸变测量
物体可以采用一个等份均匀的网格,像面位置可以放一个CCD接收,成像后看不同视场网格的变型情况就可以了.

作者: ghost 时间: 2003-10-13 17:56
标题: 畸变测量
一般采用节点滑轨法或精密测角法测量畸变，具体方法许多相关书都有详述。

我想请问老妖：你进行的测量精度大概有多少？？？是否能达到亚微米量级？是如何达到的？？

作者: ghost 时间: 2003-10-13 18:01
标题: 畸变测量
用网格成像的观察只能用于定性的判断，不好用在高精度检测上面。

本身CCD的像素就是好几微米，还不说其他光电相关而导致的误差。

作者: 华山老妖 时间: 2003-10-13 18:40
标题: 畸变测量

下面引用由ghost在 2003/10/13 09:56am 发表的内容：
一般采用节点滑轨法或精密测角法测量畸变，具体方法许多相关书都有详述。
我想请问老妖：你进行的测量精度大概有多少？？？是否能达到亚微米量级？是如何达到的？？

采用精密测角法，一般的重复测量精度保证在30秒就可以了，在测量时一般很难达到亚微米量级，因为，
1、网格板刻划误差；
2、在边缘视场色差影响；
3、转台精度误差；
4、测量人员测量误差；
5、被测系统的主面位于旋转台中心误差；
6、网格板要处在像面位置误差等；

但可以在后继畸变校正中进行拟合校正，校正精度可以达到亚微米量级。可与设计时的畸变数据进行比对，误差在5％，具体情况可继续讨论。

作者: 华山老妖 时间: 2003-10-13 18:45
标题: 畸变测量

下面引用由ghost在 2003/10/13 10:01am 发表的内容：
用网格成像的观察只能用于定性的判断，不好用在高精度检测上面。
本身CCD的像素就是好几微米，还不说其他光电相关而导致的误差。

可参见光子学报2001，30(11)“短焦距大视场光学系统的畸变校正” 1409～1412
光学技术2003,29(5)“一种超宽视场光学系统的畸变测量方法及畸变校正” 599～601，603

作者: ghost 时间: 2003-10-13 23:26
标题: 畸变测量
我曾想对所购莱卡镜头进行测试,希望能达到小于1微米的绝对精度,最终没有达到目的.

我用的经纬仪精度为亚秒级,但没找到高精度的网格板或刻划板,精度上不去:),不知你认为有什么解决办法

作者: 华山老妖 时间: 2003-10-13 23:53
标题: 畸变测量
网格板可以根据测量要求自己设计(比如为了校正时精度高一些，需要测量较多的点，在小视场可使线条的节距稍大，在接近全视场时线条节距密一些，另外，为了测量镜箱焦距，还应在中心左右各刻1弧度的线)，加工可在中科院北京微电子所，加工的精度与加工费肯定是成正比的。若有问题，可先参考提供的文献。

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