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标题: 半导体激光器芯片参数测试仪 [打印本页]

作者: hope2008 时间: 2011-3-10 16:40
标题: 半导体激光器芯片参数测试仪
本帖最后由 hope2008 于 2011-3-10 16:55 编辑

因激光器CoS(Chip on Submount)测试, 需要半导体激光器芯片参数测试仪,要求如下:

功能: 测试激光器芯片的光功率、远场发散角、峰值/中心波长、光谱宽度、边模抑制比并扫描出光谱曲线
波长范围: 400-1600nm
功率范围: 1mW-20W

如有合适的型号或指标接近的型号,请提供设备参数指标及配置清单并提供网址.

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