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标题: MIL 13830A适用于晶体的光洁度检测吗？ [打印本页]

作者: lotusinheart 时间: 2004-2-4 19:52
标题: MIL 13830A适用于晶体的光洁度检测吗？
rt

作者: lotusinheart 时间: 2004-2-4 19:55
标题: MIL 13830A适用于晶体的光洁度检测吗？
我在论坛上找到的中文军标，划痕和点子的单位分别是1微米和10微米，可是有些公司的标准是0.1微米和1微米（中间还注明是按照美国军标定的），在英文军标中我没找到关于单位的规定。

作者: xyqy 时间: 2004-2-4 20:49
标题: MIL 13830A适用于晶体的光洁度检测吗？
适用

作者: tiannan 时间: 2004-2-4 23:02
标题: MIL 13830A适用于晶体的光洁度检测吗？
适用，选择具体指标要结合实际用途。

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