光电工程师社区

标题: [讨论]测试片的差异 [打印本页]

作者: 风寒雪月缺    时间: 2003-6-29 17:34
标题: [讨论]测试片的差异
本人在用YVO4不同大小的测试片在同一炉相近的位置测的的指标相差很远,大片的指标明显比小片的好的多。请问是不是双折射的原因?
作者: hgw2001    时间: 2003-6-30 04:33
标题: [讨论]测试片的差异
YVO4却实有这样的问题。我们以也碰到这样的问题。但也不知道是为什么。所以在做晶体时。最好是测试片和正式片差不多
作者: 风寒雪月缺    时间: 2003-6-30 17:44
标题: [讨论]测试片的差异
怎么个差不多法,我镀的可都是3x3x1,2x2x1之类的啊
作者: bjp0809    时间: 2003-7-1 05:55
标题: [讨论]测试片的差异
就是正式片有多厚那测试片就有多厚。如果不行就用正式片测好了。不过要小心括伤表面。
作者: 风寒雪月缺    时间: 2003-7-2 02:03
标题: [讨论]测试片的差异
造成这种现象的原因是什么?请告知
作者: hgw2001    时间: 2003-7-3 03:20
标题: [讨论]测试片的差异
我认为这是由晶体双折射造成的。你觉得呢。因为由于晶体双折射使得它的出射光与晶体的厚度有关。
作者: hgw2001    时间: 2003-7-3 03:20
标题: [讨论]测试片的差异
如果片子很薄的话那就不会有这个问题。
作者: 风寒雪月缺    时间: 2003-7-3 05:23
标题: [讨论]测试片的差异
谢谢,我试试看。我也觉的是双折射的原因。现在用大片来用
作者: hgw2001    时间: 2003-7-5 19:04
标题: [讨论]测试片的差异
如果我们镀的是增透膜的话,片子很薄时我们就可以不用考虑背面影响。但是厚片就不行了。须用背面有倾角的片子。或是背面磨砂不透光。
作者: a99533126    时间: 2011-6-19 08:36
受教了




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