光电工程师社区

标题: 关于PLC器件 1550nm点测试不过，1310测试合格的原因？ [打印本页]

作者: www_awei 时间: 2011-7-26 17:28
标题: 关于PLC器件 1550nm点测试不过，1310测试合格的原因？
各位，小弟在分析PLC器件失效原因时，遇到了很多产品1310测试合格，而1550IL不合格，这些器件都是没有连接器的裸纤器件，测试方法采用熔接测试，测试系统和设备都确认过没有任何问题。我们的器件耦合时采用1310nm波长监控，就发现测试时1550有很多不合格，最近我们采用1550监控，又发现1310有好多不合格。还请高手指点一下，是我们的工艺有问题，还是芯片自身WDL不够好，我个人觉得芯片WDL应该不会这么差吧。主要想知道在PLC耦合工艺时，有什么原因导致这种情况？希望大家了解PLC工艺的来讨论一下，

作者: pany132 时间: 2011-7-27 00:08
“我们的器件耦合时采用1310nm波长监控，就发现测试时1550有很多不合格，最近我们采用1550监控，又发现1310有好多不合格”
你们可以在线测试啊。首先确定在线测试的结果是否准确。耦合时准备2套光源，2个光功率计探头，来测试。

作者: fiber8842 时间: 2011-7-27 11:57
不知道你们用的哪家公司的芯片，fira? 可以换一家公司的芯片试试，个人觉得芯片存在问题可能性较大。

作者: phwangshadow 时间: 2011-9-5 10:38
两种波长自身衰减就有差别，对不同的光纤，一般测试对应的波长用对应的光纤

作者: 绵阳超光 时间: 2011-9-9 09:30
用我们公司的设备不管你测几个波长都只熔接一次详情请联系我 13981191821 QQ：1793134731

作者: 绵阳超光 时间: 2011-9-9 09:30
用我们公司的设备不管你测几个波长都只熔接一次详情请联系我贾先生 13981191821 QQ：1793134731

作者: zzzat 时间: 2011-9-9 13:41
1310和1550在耦合时就采用相对应的波长你用1310的波长耦合就只能耦合1310的 1550的一样

作者: 夜行者之炼狱 时间: 2011-9-14 22:49

作者: wayne1223 时间: 2011-9-20 09:14
你好，不知道你们单位的问题现在解决了没？
你所说的是不是在调心对光的时候发生的问题还是，封装后，后到光学检测时发现的问题啊？

作者: www_awei 时间: 2011-9-20 11:29
现在好了一些，是封装后检测发现这个问题的，对光时没有监控1550。

作者: wayne1223 时间: 2011-9-21 08:24
你好，那你知道你们那现在好一点的原因吗？
怎么分析的，对策又是怎么样，对策后的效果怎么去验证的？

我的建议：在PLC对光的过程中，其实需要1310/1550双波段监控的。
你们那对光是自动对光的，还是手动对光的啊？
如果需要沟通，请联系我，一起探讨探讨。
QQ：943956952（注明：PLC光分路器）

作者: www_awei 时间: 2011-9-26 14:19
经过近两个月的实验观察，总结，出现这种现象有以下原因：
1.芯片问题；芯片在1310和1550这两处，有WDL存在，即在这两处IL会有所差别，但一般晶圆工艺做得好一点的话，这两处IL差别就比较小一般在0.2左右，这时你只用一个波长监控，也不会出现什么问题。但有些厂家晶圆质量不太好时，就会表现在1310和1550两处IL差别在0.4到0.5dB;这个时候你若还是用一个波长来监控，则会出现如帖子所述的单点IL不合格现象。
2.在对光耦合过程中1310和1550间有时确实存在一个平衡点问题，我们在试验中发现有些芯片在1310处调到IL最小时，1550处IL却偏大，反之亦然；而把1310 IL调到一个适当值时，1550IL和1310IL都比较接近，且小于SPEC

得出以上结论后，我现在把所有对光机台都改为双波长监控，现在出现单点IL不过的现象少多了

作者: enen0517 时间: 2011-10-20 23:09
还可考虑使用1480波长光源监控，用1310或1550波长检测，估计会达到类似效果

作者: 50502 时间: 2012-1-3 20:46
我家是做芯片的，可以肯定的告诉你是芯片的问题，原因是芯片没有设计好。晶圆生产厂在设计时没有找到很好的平衡点。你可以换一家晶圆试试。

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