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标题: 提供测膜厚, 折射率 和 光损耗的设备 [打印本页]

作者: ldaan    时间: 2004-6-26 00:24
标题: 提供测膜厚, 折射率 和 光损耗的设备

我们有提供测膜厚, 折射率 和 光损耗的设备(镀膜,涂层,长晶体用). 该设备在测量 精度, 准确性方面, 与美国的相关设备一样. 但在光损耗的测量上, 我们的设备精度更高. 而且我们的价格也比他们更低.

有兴趣, 请联系: ldaan@163.com

骆生.






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