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标题: 晶控之镀膜材料的密度问题 [打印本页]

作者: 缘睐汝痴 时间: 2011-9-14 20:00
标题: 晶控之镀膜材料的密度问题
各位大哥，我这里是两台南光机，改装的晶控，一台是SQC310,一台是MDC360，可是这两台机器里面的材料默认参数不同，材料密度也不同，比如都是晶控仪里面的材料，都是SIO2,310的是一个值，360是另一个值，难道材料的密度还会和晶控仪器相配合啊，它们的差值在0.2——0.5范围内，很疑惑。是不是那个不重要呢

作者: longmin 时间: 2011-9-14 22:17
如果不一樣的話
只是所得到的厚度有差異
密度=質量/體積
體積=面積*高度
高度就是厚度

作者: 缘睐汝痴 时间: 2011-9-14 23:50

longmin 发表于 2011-9-14 22:17
如果不一樣的話
只是所得到的厚度有差異
密度=質量/體積

恩，谢谢
还没有想过有这些问题

作者: yezhi381009880 时间: 2011-9-15 09:32
那些不同的密度参数，会是镀膜机照成的吗？？？？毕竟有时候不同的工艺镀出来的折射率都不一样

作者: xiao2011 时间: 2011-9-15 10:15
我们这，两种晶控都有，还真没有注意到，有空研究一下

作者: 缘睐汝痴 时间: 2011-9-15 10:33

longmin 发表于 2011-9-14 22:17
如果不一樣的話
只是所得到的厚度有差異
密度=質量/體積

这就是每台晶控机器的TOOLING不一样的问题之一？

作者: cxm05371 时间: 2011-9-15 19:19

作者: killjackson 时间: 2011-9-17 14:46
tooling的作用就在此了
不同是正常的

作者: 懒得糊涂 时间: 2011-9-20 17:25
层数不多的话乱输一个，调整好tooling,好像问题也不大

作者: Jimmy_tang 时间: 2011-9-22 08:48
镀膜材料的参数有密度和体积密度，晶控用到的是哪种呢？

作者: xiazg 时间: 2011-9-23 16:24
需要晶振片的可以联系我 QQ1046118891

作者: meilirensheng 时间: 2011-9-28 14:34

作者: royyang 时间: 2012-6-1 23:49
学习

作者: gxfdllg 时间: 2012-6-3 17:49
没有关系的啦，密度就是跟控制仪显示的厚度有关系啦，相差不要太大就可以了！

作者: qs2784 时间: 2012-6-21 21:33

作者: MorningTech 时间: 2016-5-17 20:31
楼主细心。的确存在 360和 310及Inficon系的 SiO2密度和声阻抗参数略不同。
后两者可能采用的是晶体参数，比膜层中略大。从此来说，推荐用360参数。

但是，晶控仪中的Tooling 参数可以修正密度偏差。所以，用哪个密度值，对晶控仪来说都问题不大。

作者: yifeng602 时间: 2017-4-8 22:32
楼主都不说明什么类容估计没人买
如果只是说明书之类的话百度文库都有很多

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