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标题: TFC的简单问题 [打印本页]

作者: Jimmy_tang 时间: 2011-9-23 09:46
标题: TFC的简单问题
询问一个简单问题，在使用TFC验证膜系时，QWOT输入的数值，应是监控波长的倍数，还是参考波长的倍数？

作者: Jimmy_tang 时间: 2011-9-23 11:28
沉下去了。。。。赶紧顶起来。这是很简单的问题吧？我是没用过镀膜设计软件，不会大家都没这么做过吧。。。

作者: Jimmy_tang 时间: 2011-9-23 13:47

你们不能这样啊，除了灌水偶尔也做点正事啊。。。。

作者: xiazg 时间: 2011-9-23 16:18
嘉兴晶控电子有限公司——晶振片专业生产厂家
原材料到成品的100%制造

嘉兴晶控电子有限公司（JJK）成立于2004年初，公司位于浙江省嘉兴市余新镇工业园区。是一家集研发、生产、销售石英晶振片和石英晶体微天平的科技型企业。
公司于2004年开始生产石英晶振片基片，并于2005年下半年大量供应美国市场，成为国内最大的石英晶振片基片生产商。经历4年技术和经验的沉淀之后，2008年JJK决心自创品牌，从美国引进先进的镀膜设备和检测设备，以一流的技术、一流的团队，凭借一流的基片，精心打造国内晶振片第一品牌。

为满足国内市场各种型号、规格晶控仪对晶振片的差异化需求，JJK精心设计和制造了多种不同规格的晶振片（5/6MHZ金、银、合金3种电极），并全面开拓国内市场。JJK晶振片不仅品种规格齐全，更重要的是，JJK晶振片品质性能的稳定性和可靠性与进口晶振片已无差距，可重复使用次数也达到了进口晶振片的水平。至2010年底，我们的客户达到400多家，产品广泛应用于光学镀膜、半导体（LED）行业，医疗、军事、航天等研究机构，远销美国、新加坡、德国、日本等海外市场，并受到业界的一致认可。现公司还有一些镀膜材料和晶振探头等产品。
联系人：夏志国 15068338773 QQ1046118891

作者: Jimmy_tang 时间: 2011-9-23 16:31
好吧，虽然是广告，也算是顶我的帖子了。。。

作者: yibi11 时间: 2011-9-25 15:59

帮楼主顶一个。。。什么是监控波长啊？莫非楼主用的是光控？QWOT值根据的是tfc基本设置中参数reference wavelength后面的那个波长来的，QWOT取1便是指这层膜的光学厚度为1/4这个波长，楼主如果真用的光控，那就是指你走的一个极值的厚度。本人水平有限，所说的很多术语都不专业，不知道楼主听懂了没？

作者: Jimmy_tang 时间: 2011-9-26 09:53
嗯，我用的确实是光控。
现在的问题是这样：我在产线上有一个膜系，我知道员工对它的操作过程，一个3层的简单膜系，3种膜料，LHL，每层都使用不同的monitor wavelength。
现在的问题是，我不知道reference wavelength是多少，monitor wavelength和reference wavelength的偏差是多少，该怎么办呢？

作者: jintaxi0721 时间: 2011-9-26 15:53

作者: yibi11 时间: 2011-9-26 16:11
每层用不同的监控波长？这个问题比较麻烦，每种膜料应该都对应了它特有的TOOLING（对应于不同的机台），具体都是通过实验得出的，所以不能通过简单的偏差来说，这个道理很容易理解，比如同样是个AR膜，就一个hl，但是你用不同的材料，你用的监控波长也不一样。楼主用三种材料镀的是什么膜，方便说一下，也好具体分析。

作者: xiao2011 时间: 2011-9-26 20:58

作者: Jimmy_tang 时间: 2011-9-27 09:27
单点AR的我基本明白，但双点AR的，参考波长的设定是否就是两个点的均值？

具体的膜系不是不想说，但因为是实际在使用的膜系而非自己设计的，所以不能拿出来讨论。
不管怎么说，谢谢了。

作者: yibi11 时间: 2011-9-27 11:58
其实TFC中的参考波长并不重要，比如参考波长你设为600，QWOT值取1的话，那即便你的参考波长设成了500，只需将QWOT设为1.2就行了，得出的结果完全一样的。参考波长不过就一参考值，具体的意义不大。楼主要验证膜系的话，大可以你们用的监控波长为参考波长，然后按照镀膜的极值数输入QWOT值，看出来的曲线和你们实际做出来的有什么偏差，再适当的调试一下，应该可以得出来的，而且还能得出你们机器上各种材料的工具因子的。。。

作者: Jimmy_tang 时间: 2011-9-27 17:03
我已经这么试过了，但一个点的R值下不来。太高了。

作者: john03062003 时间: 2011-9-28 17:24
我认为产线上用的应该是用极值法控制非规整膜系，应该用了不同的监控片吧？？我就用这种方法做过！

作者: Jimmy_tang 时间: 2011-9-29 09:35
光控本来每更换一次监控波长，就要换一次监控片的。

作者: yezhi381009880 时间: 2011-9-29 13:00
你那会不会是因为膜料折射不准造成实际和你模拟的不符

作者: Jimmy_tang 时间: 2011-9-29 16:08

yezhi381009880 发表于 2011-9-29 13:00
你那会不会是因为膜料折射不准造成实际和你模拟的不符

额，这个膜料的折射率是从论坛里前辈们提供的TFC材料数据里查到的。。。老实说，我确实不知道有多少偏差。但按理说偏差不大，我应该也可以用错误的折射率编出类似的曲线才是。但我长波长的那个点高悬着放不下来啊。

作者: sery1234 时间: 2011-9-30 09:10
这个不太好解释不知道从何说起啊。楼主要解决的东西太多了，关注中。。。

作者: Jimmy_tang 时间: 2011-9-30 11:45

半路出家，就是这么凄惨啊。

作者: wangzhengkm 时间: 2011-10-5 23:03
very good

作者: ipshjh2005 时间: 2011-10-10 07:25

作者: xiao2011 时间: 2011-11-28 13:40

作者: Jimmy_tang 时间: 2011-11-28 13:49

大概算是猜到原因了。膜料的折射率其实未必是供应商提供的数值。充氧等条件会影响材料的折射率的，不要太相信供应商给的资料，因为那通常是膜料作为光学介质时的折射率，而充氧会导致空隙等，从而降低折射率。

作者: dcjlcm 时间: 2011-11-30 14:27

作者: 272813953 时间: 2011-11-30 23:58

作者: ipshjh2005 时间: 2011-12-14 22:57

作者: xiaojiang007 时间: 2011-12-15 21:23

yibi11 发表于 2011-9-26 16:11
每层用不同的监控波长？这个问题比较麻烦，每种膜料应该都对应了它特有的TOOLING（对应于不同的机台），具体 ...

材料的tooling 是指的什么呢

作者: xiaojiang007 时间: 2011-12-15 21:26

yibi11 发表于 2011-9-26 16:11
每层用不同的监控波长？这个问题比较麻烦，每种膜料应该都对应了它特有的TOOLING（对应于不同的机台），具体 ...

材料的tooling 是指的什么呢

作者: LOUYC 时间: 2013-7-12 10:19

作者: spinnaker 时间: 2013-9-25 13:22
学习了

作者: spinnaker 时间: 2013-9-25 14:12
好好学习

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