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标题: 量测HR高反膜时，量测角度倾斜对测量结果有什么影响？ [打印本页]

作者: 凉晴天 时间: 2011-11-15 23:29
标题: 量测HR高反膜时，量测角度倾斜对测量结果有什么影响？
量测HR高反膜时，量测角度倾斜对测量结果有什么影响？反射波长向长波方向偏移了么？

作者: 凉晴天 时间: 2011-11-15 23:29
请大侠给予确定的答案

作者: jiahao1985312 时间: 2011-11-16 10:32
当然会，不过会往短波偏移
至于偏移量跟角度的关系，要看是什么波段，波段越长，相对偏移量就更大
楼主自己用TFC试一下，就明白

作者: cxm05371 时间: 2011-11-16 13:01

作者: 凉晴天 时间: 2011-11-16 23:45
但个人认为，镀膜的时候监控波长倾斜会使监控判断失准，膜偏薄而滤波特性偏短波。镀好膜后，进行滤波测试性能，此时倾斜应该会照成光程差变长，滤波特性往长波方向偏移吧。

作者: otxtc 时间: 2011-11-17 10:26

凉晴天发表于 2011-11-16 23:45
但个人认为，镀膜的时候监控波长倾斜会使监控判断失准，膜偏薄而滤波特性偏短波。镀好膜后，进行滤波测试性 ...

反了。

作者: jiahao1985312 时间: 2011-11-17 13:20
反了

作者: Jimmy_tang 时间: 2011-11-17 16:25
我用TFC的交换分析功能，在厚度不变而角度增大的时候，所测量到的曲线会往长波方向移动。我觉得LZ没错啊？

作者: otxtc 时间: 2011-11-17 19:58

Jimmy_tang 发表于 2011-11-17 16:25
我用TFC的交换分析功能，在厚度不变而角度增大的时候，所测量到的曲线会往长波方向移动。我觉得LZ没错啊？{ ...

你用个带通膜系再试试, 看倾斜后中心波长到底怎么移动。

作者: Jimmy_tang 时间: 2011-11-18 09:18

otxtc 发表于 2011-11-17 19:58
你用个带通膜系再试试, 看倾斜后中心波长到底怎么移动。

抱歉，是我错了。。。横坐标不小心弄成波数了。。。换成波长后，入射角增加，反射波长段确实是向短波方向移动。

我用的是H(LH)^9的膜系，H为TiO2，L为SiO2。

作者: xiao2011 时间: 2011-11-19 18:19

作者: 缘睐汝痴 时间: 2011-11-20 20:12

作者: 三月 时间: 2011-11-20 20:38

作者: 凉晴天 时间: 2011-11-21 05:03

otxtc 发表于 2011-11-17 19:58 你用个带通膜系再试试, 看倾斜后中心波长到底怎么移动。

我是在非镀膜过程量测，按波动光学推理和几何光学的几何关系，已经镀好的膜，角度倾斜时光程差会随角度增大变长，波长也跟着变长才对吧？

作者: otxtc 时间: 2011-11-21 12:10

凉晴天发表于 2011-11-21 05:03
我是在非镀膜过程量测，按波动光学推理和几何光学的几何关系，已经镀好的膜，角度倾斜时光程差会随角度增 ...

再仔细算算光程差，然后把正确计算过程与大家共享一下，如何？
// 从入射平行光开始，计算到出射光后总的光程差。
// 入射介质与出射介质内的光程都要考虑。
// 自己推导一次后，相信就不会再忘了。

作者: 风寒雪月缺 时间: 2011-11-21 12:31
薄膜是干涉原理实现波段性能的。在角度入射下，有效位相厚度加了个角度的余弦，导致有效位相厚度减少，要实现干涉就相当于在波长更短的地方实现。因此波长是变短了。不能用单一的光程差来分析。

作者: Jimmy_tang 时间: 2011-11-21 14:02

查了一下资料，确实如此。如果只考虑膜层里面的光程，确实是变长了，但是反射光也有一个光程抵消了，你可以用平面几何计算一下。
光程差表达式为△=2ndcosθ，n和d分别为膜层的折射率和膜厚，θ为光在膜中的折射角。
有效光学厚度即为△/2，有效位相厚度δ=2π△/λ。
所以，角度越大，有效位相厚度越小。

作者: otxtc 时间: 2011-11-21 19:58

风寒雪月缺发表于 2011-11-21 12:31
薄膜是干涉原理实现波段性能的。在角度入射下，有效位相厚度加了个角度的余弦，导致有效位相厚度减少，要实 ...

一点商榷.
1. 光学薄膜的确是干涉结果；
2.干涉的三个必要条件中，没有位相厚度这一说，
此处只考虑光程差即可。
3.确实，总结出薄膜位相厚度之后，计算变方便了。
但有效位相厚度的来源貌似还是光程差。

作者: 凉晴天 时间: 2011-11-22 02:50
可能吧我找个时间好好推算一下。我比较外行，可能这方面得多向你们学习。我先去思考一下有效相位差和光程差之间的具体如何巧妙的影响波长偏移。

当时我是用solidwork这种工程制图软件建模分析的，当时模拟是出的光程差比一个波长（1550nm）多了0.2nm左右。如果考虑到周期性，那么有效相位差应该是 0.2/1550个波长，考虑周期性，那么就是相当于1-0.2/1550个波长啦；应该是这样吧，我比较外行，只能用外行的笨方法去理解了。

作者: 凉晴天 时间: 2011-11-22 03:28

Jimmy_tang 发表于 2011-11-21 14:02 查了一下资料，确实如此。如果只考虑膜层里面的光程，确实是变长了，但是反射光也有一个光程抵消了 ...

△=2nd╱cosθ才对吧

作者: Jimmy_tang 时间: 2011-11-22 08:40
本帖最后由 Jimmy_tang 于 2011-11-22 08:45 编辑

凉晴天发表于 2011-11-22 03:28
△=2nd╱cosθ才对吧

真的建议你画个几何光路图，然后计算一下。。。
喏，我干脆把图也给你了，我估计你根本没去考虑AD的长度。

作者: 风寒雪月缺 时间: 2011-11-22 09:58

otxtc 发表于 2011-11-21 19:58
一点商榷.
1. 光学薄膜的确是干涉结果；
2.干涉的三个必要条件中，没有位相厚度这一说，

干涉里也讲求相位差恒定，怎么和位相厚度无关。
光程差是没错，但是薄膜还涉及到位相的问题，不能单一的用光程差就理解了，那不是理解错了吗？

作者: jiahao1985312 时间: 2011-11-22 10:19
强烈建议版主将此贴升级为精华贴~~~~

作者: otxtc 时间: 2011-11-22 11:29

风寒雪月缺发表于 2011-11-22 09:58
干涉里也讲求相位差恒定，怎么和位相厚度无关。
光程差是没错，但是薄膜还涉及到位相的问题，不能单一的 ...

Jimmy_Tang的图里也可看到，薄膜的有效位相厚度这个概念是从光程差推导出来的。
就是一个东西，不同表述而已。

作者: yibi11 时间: 2011-11-22 18:04

凉晴天发表于 2011-11-16 23:45
但个人认为，镀膜的时候监控波长倾斜会使监控判断失准，膜偏薄而滤波特性偏短波。镀好膜后，进行滤波测试性 ...

没搞懂什么叫镀膜时监控波长倾斜？镀膜后倾斜角度测试出来的中心波长肯定比不倾斜测的短，这个和你镀膜时的监控应该没什么关系吧。比较的只是倾斜角度测试和不倾斜角度测试。。。。。

作者: yong0009 时间: 2011-11-22 19:26

作者: 凉晴天 时间: 2011-11-25 02:02
确实倾斜角度越大波长偏短波越严重，我用CAD根据绘制光路量测出来，结果和 jiahao1985312 给我的资料非常吻合。谢谢 jiahao1985312 。之前的错误结论是推导时忽略了一个小细节。

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