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标题: 偏薄与量测角度的关系 [打印本页]

作者: 凉晴天 时间: 2011-11-16 23:48
标题: 偏薄与量测角度的关系
镀膜的时候监控倾斜会使监控判断失准，膜偏薄而滤波特性偏短波。镀好膜后，进行滤波测试性能，此时倾斜应该会照成光程差变长，滤波特性往长波方向偏移吧。

求鉴定该描述的正确性

作者: xiao2011 时间: 2011-11-19 18:29

作者: yibi11 时间: 2011-11-22 17:59
看了半天没看懂

作者: filmokay 时间: 2011-11-26 16:38
描述的不清楚啊。
你想表达什么意思呢？感觉像是高中语文考试

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