buaa_dsw 发表于 2011-12-15 23:18 光控tooling概念存在于间接光控型的镀膜机(直接光控就是1了),定义为:监控片上薄膜的光学厚度/实际样片上 ...
Jimmy_tang 发表于 2011-12-16 15:59 我测量过监控片上薄膜的光学厚度,监控片上薄膜的光学厚度与设计值也并不相同。不过3楼说的我得赶紧去测试一 ...
缘睐汝痴 发表于 2011-12-19 21:35 怎么测量出光学厚度的呢,是测光谱曲线然后计算出来的还是就是直接用仪器测量出来的呢
Jimmy_tang 发表于 2011-12-20 09:19 我是测光谱曲线,然后算出极值点处的折射率。 能测量厚度的仪器我好想要啊。。。
filmokay 发表于 2011-12-20 10:21 你的做法是正确的啊。直接测试厚度的仪器如台阶仪得到的是物理厚度,光学厚度都是通过光谱进行计算的啊。
Jimmy_tang 发表于 2011-12-20 11:19 谢谢你的确认。 不过,为什么我计算出折射率后,再用TFC依照此折射率做出曲线,曲线与实际曲线 ...
缘睐汝痴 发表于 2011-12-20 14:27 这个偏差我认为是正常的,这样的偏差也更好解决。实际和模拟曲线晶控监控总是会有误差的,即使你的TOOLIN ...
Jimmy_tang 发表于 2011-12-20 15:03 我这个偏差通常是0.8啊。上周工转盘坏了,修完后,发现曲线异常,算了一下后,吓了一跳,膜的折射率高了很 ...