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标题: [求助]美国公司寻求合作：LD寿命测试 [打印本页]

作者: bozeman 时间: 2004-12-29 11:55
标题: [求助]美国公司寻求合作：LD寿命测试

具体情况，俺原来是华工学生，现在在美国念书，当地公司 http://www.ilxlightwave.com/ 打算开拓中国市场，目前LD test system 是他们开发的一个产品，希望在中国武汉寻求一些研究合作。并希望捐献一些咚咚给中国研究机构。

我去参观了一下他们的公司，那个LD test的产品是一个很大的箱子，里面可以有很很稳定的温度和电流控制，在保证output power 一定的情况下，随着运作时间长，为了有相同的output, current会需要提高, 做出linear curve (近似直线)，current VS time，然后fitting that curve，因为是linear就是延长那条直线，然后看什么时候那个current 会增加10%，一般认为这个时候,LD fail.(下面那个PDF的连接，有那个曲线)

重点我感觉就是那个仪器，可以有很很精确的温度，和current。

我的信箱是：xiong@physics.montana.edu

我们可否交换信箱，或者如果你们不介意，我可否，电话咨询一下你们。

万分感谢！！！

更多产品信息：

http://www.ilxlightwave.com/pdfs/9424_brochure.pdf

http://www.ilxlightwave.com/laser_diode_test_systems.html

LRS-9424 Laser Reliability and Burn-In Test System LTS-9110 Laser Diode Test System LPA-9080 Series Laser Diode Parameter Analyzers SPA-9000 Laser Diode Parametric Analysis Software

作者: tw 时间: 2004-12-31 17:20

实际上，LD测量老化和寿命测试，Newport就有，不过我不是太熟悉，可以上他们的网站去看看，Http://www.newport.com

Laser Diode Burn-in and life test system

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