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标题: 自动偏光解析系统 [打印本页]

作者: wuhekeji 时间: 2016-8-30 15:00
标题: 自动偏光解析系统
万能偏光光源

在光源的后方设置偏光操作光学系统，可输出任意偏光状态的光束。

可选择直线偏光，圆偏光，椭圆偏光以及长短轴比例，转动方向等。

可用计算机动态控制。便于评估具有偏光依存性的样品，或在光路后部进行偏光补偿。

偏光测定装置

计测和解析入射光束偏光状态的装置。

可求入射偏光的斯托克斯参数S0～S3。

样品特性测定装置

任意偏光光源，样品保持机构，偏光测定装置的组合，可完成样品的特性的测定。

可构建透过型或反射型。

反射型即可测偏光特性，也可用作椭圆偏振光法（Elipsometry）。

内部应变检查装置

可观测纹理，加工应变等，样品内部的应变的装置。

可把内部应变的分布和变化录像。

应用例

承接生产设备或测定装置，专用装置的开发制造主要部件选用样本上的标准产品，既经济，又容易保证质量和性能。
只需添置一些配合专用设备的零部件就可完成开发，效率高，容易实现个性化研发。

圆偏光测定装载

采用立式透过光学系统的偏光光学件特性评价系统

只需把被测样品放置到台架上就可完成测定。

可测定分光相位差，偏光分光特性，透过偏光比等。

自动偏光解析系统.pdf (5.98 MB, 下载次数: 88, 售价: 1 元光电贝)

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