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标题: 薄膜测试仪 [打印本页]

作者: zphhappy2002 时间: 2005-3-25 19:56
标题: 薄膜测试仪
现向大家推荐美国SCI公司的薄膜测试仪器,本公司的测试器广泛应用于半导体,光电子,数据存储,显示器,MEMS等工业领域.

. Measurement Features

测量特征

FilmTek™ 1000

FilmTek™ 1500

FilmTek™ 2000

FilmTek™ 3000

FilmTek™ 2000SE

FilmTek™ 4000

Index of Refraction折射指数 (at 2µm thickness)

±0.005

±0.002

±0.0002

±0.00002

Thickness Measurement Range

厚度测量范围

10nm-150mm

5nm-150mm

1Å-150mm

3nm-350mm

Maximum Spectral Range

最大光谱范围

380-1000nm

190-1700nm

Standard Spectral Range

标准光谱范围

380-1000nm

240-860nm

240-1000nm

380-1000nm

Reflection反射测量

Transmission透射测量

Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量

Power Spectral Density

功率谱密度测量

Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量

Both TE TM Components of Index

Multi-layer thickness

多层厚度测量

Index of Refraction

折射系数测量

Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数

Energy band gap

能量带隙测量

Composition成分测量

Crystallinity晶状测量

Inhomogeneous Layers

非均匀层测量

Surface Roughness

表面粗糙度测量

如有问题请与我们联系:0755-83342710,或:13632712541. Email:zoupuhong@chinecnet.com 邹普红

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