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标题: 最新镀膜膜厚监控系统（国际领先水平） [打印本页]

作者: cikelong2000 时间: 2005-5-17 21:13
标题: 最新镀膜膜厚监控系统（国际领先水平）

我的联系方法：13693572892，010-58051723 e-mail:xili@goldway.com.cn

国内已有多家公司配备我公司产品，使用后效果反映良好！

Filmonitor® BS光学镀膜宽光谱在线监控系统

ATH connecttype="rect" gradientshapeok="t" extrusionok="f">ATH>1.高速实时（最小测量时间3ms）

2.宽光谱监控 400-800nm

3.膜厚控制精度高

4.工艺测试功能—折射率测量

5.辅助判停功能—更有利于控制质量

6.理论光谱曲线和实用目标光谱曲线功能

7.适合监控非规整膜系

8.全中文操作界面

9.配置全、价格低

Filmaster® 光学薄膜设计

1.功能全面,能够分析膜系各种特性

能够使用多种参数进行膜系设计；

能够指导加工生产。

2.方便易用,界面友好，操作简单明

了，经过简单培训即可完全掌握。

3.更加适合中国用户,全中文界面，

更加适合国内用户使用

4.与Filmonitor BS光学薄膜宽光

谱在线监控系统联用会取得更佳

Filmeasurer®光学薄膜透射率台式测量仪

技术参数：

光谱范围：400-1000nm

分辨率：优于2 nm

稳定度：＜0.5% @100% ＜0.05% @4%

以下（20分钟预热）

测量速度：0.2-1秒/次（平均值）

绝对测量速度：＜±1.0%

测量范围：T：0-100%

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