我自己翻译的，你要不要,只能参考,我不懂技术
2樓的朋友,寄一份給我好嗎
先謝謝了
能给我一份吗wxm_oplux@163.com
我也要啊！^_^
tristenmail@gmail.com
此為軍火控制設備用光學元件規章；監控生產、裝配、檢測的通用標準，所有防禦和代理部門可允許使用此種標準。
1. 範圍：
1.1範圍：此標準包括精加工光學元件的生產、裝配、檢測，諸如：透鏡，棱鏡，面鏡、光柵、視窗以及用於防火儀器或設備。
2.應用文件：
2.1本章列出的檔需要滿足本標準3、4、5章的要求。本章不包括本標準其他章節的檔或其他資訊推薦的檔。為了保證本目錄的完整性，檔使用者必須注意檔須滿足本標準3、4、5章列出的檔要求，無論這些內容是否在本章中列出。
2.2其他政府檔，圖紙及出版︰下列政府其他檔、圖紙和出版組成本檔內容的一部分，擴大本文的範圍。除非另有規定，這些檔、圖紙和出版是徵求引用的。圖紙 C7641866---光學元件表面質量標準（立約人要求的其他政府檔、圖紙、出版複印件及具體的功能應該從簽約事宜或簽約指示得到。）
2.3 優先順序：本標準內容與其引出的參考有衝突時，以本標準內容為准。本標準未述內容，可行法律法規代行除非有具體的免除通知。（看附加有限標準合同條令）
3.要求：
3.1所有的光學元件，配件以及系統產品都必須符合這一標準的要求，除非具體的儀器標準或合同之可行圖紙另有要求與定義。
3.2所用的材料也必須與圖紙的說明以及使用檔的標準相一致。
3.2.1玻璃光學元件在規格，以及級別必須與圖紙要求相一致。允許使用玻璃材料時，應提供給合同管理人員相關的玻璃光學特性及設計資料完整的資訊。
3.2.1.1放射性材料：本文中要求的光學材料應不含釷或其他加入的超過0.05%重量的放射性材料。
3.2.2粘著力：除非合同和定單中有特殊說明，光學粘合劑必須同附錄A的要求相一致。
3.2.3粘連材料：對於玻璃同金屬相粘連，必須與附錄D的要求相一致。
3.2.4密封材料：用於密封的材料必須與附錄E的要求相一致。
3.2.5增透膜：用於光學表面鍍膜的增透膜必須與附錄C的要求相一致。
3.2.5.1反射表面：鋁化反射面必須與附錄B的要求相一致。
3.3機械尺寸大小：光學元件必須與合同以及圖紙的要求的尺寸和光學資料相一致
3.3.1邊：所有光學元件都應當倒邊在（0.020-0.005英寸在45度+/-15度），沿面寬進行測量，除非有特殊指定。如果邊於在135度或者更大角度處交彙，則不需要倒邊，除非圖紙對此有特殊的要求。
3.4平面度和缺陷：光學玻璃平面度和缺陷都必須符合此標準或可行圖紙或光學圖表資料。
3.4.1玻璃缺陷：壓模中的條紋、條痕、孔、氣泡、裂紋、折疊等缺陷或存在於點、面或其他損壞元件性能的位置的材料應該拒收。
3.5光學玻璃表面質量：
3.5.1光學用圖紙和圖表：元件所用的圖紙必須顯示表面質量，圖表表明光束的直徑
3.5.1.1缺陷尺寸限制：對於表面質量的許可範圍通常以兩個數字來表示(C7641866)，表示在兩個方面的級別要求。第一個數位表示劃痕，第二個數字表示麻點。
3.5.2劃痕：
3.5.2.1環形元件：光學元件表面上最大尺寸劃痕的總長不得超過光學元件直徑的四分之一。
3.5.2.1.1劃痕的最大總長度：如果存在較大劃痕，則這類劃痕的總數乘以元件長度與直徑的比值，這個數值不得超過最大劃痕的總數的一半。如果不存在較大的劃痕，則劃痕的總數乘以元件長度與直徑的比值，這個不得超過最大劃痕數
3.5.2.2非環形光學元件：非環形元件計算的直徑應是同等面積一個圓周的直徑。在指定光學元件圖紙或詳圖中透光區之外的劃痕不被考慮在內，應用3.5.2.1.1規定的正確的公式。
3.5.2.2.1棱鏡頂面：為了方便劃痕、麻點（S/D）的計算，棱鏡頂面可視為一個單個面（等於各個頂面的總和），頂面的邊不被考慮在可允許劃痕總長範圍之內除外。屋脊棱鏡的S/D公差設在同等面積的元件的基礎上。
3.5.2.2表面質量，中心區：規定劃痕數為20或更少的表面，在直徑1/4”（6.35mm）環形範圍內，劃痕不應超過4個。此要求不用於劃痕少於10個的表面。
3.5.2.3表面質量，外部區域：在透光區之外的表面質量應為80-50，除非另有要求。
3.5.2.4鍍膜劃痕：鍍膜劃痕不透入玻璃表面，在3.5.2規定的同一限制內。鍍膜劃痕應視為與材料劃痕不用的要求。
3.5.3麻點：
3.5.3.1麻點設計：麻點數為允許缺陷的真正直徑，單位為1/100mm。如有不規則的麻點，直徑取最大長度和最大寬度的平均值。
3.5.3.2最大尺寸麻點：最大尺寸麻點可允許的數量應該是直徑20mm或單個面的20mm區域有一個。所有麻點直徑的總和由檢驗員估計，不應超過最大尺寸麻點直徑的2倍。小於2.5微米的麻點被忽略不計。
3.5.3.3表面質量：麻點為10個或更少的表面上，所有麻點必須間隔至少1mm。麻點數多於可允許的10個時，不要求檢測它的散射。
3.5.4氣泡與雜質：氣泡應歸為表面麻點。玻璃中的雜質被視為氣泡。不規則的雜質的尺寸應為1/2（最大長度+最大寬度）。氣泡尺寸公差與麻點的一樣，但氣泡公差在麻點公差之外。
3.5.4.1最大尺寸氣泡：最大尺寸氣泡可允許的數量應該是光徑20mm或單個元件20mm區域有一個。所有氣泡直徑的總和由檢驗員估計，不應超過最大尺寸氣泡直徑的2倍。表面麻點為10個或更少，氣泡應參照麻點要求的（3.5.3.3）。
3.5.5表面缺陷的尺寸限制：如果圖紙無規定，SD限制尺寸由表1決定，並且建立在放大的光束直徑上。
3.5.5.1放大的光束直徑：光束直徑應從視覺資料中獲得。它是所研究片子表面上一束進入觀察者眼中的有軸向射線的直徑。如果出射瞳孔超過3.5mm，那進入到視線直徑應為3.5mm,如果退出瞳孔小於3.5mm，則光束直徑應與出射瞳孔一樣。
3.5.5.2光束尺寸小於表1：光束尺寸小於但接近于焦平面所規定的尺寸，那缺陷尺寸由直立系統的放大倍數乘以目鏡的放大倍數決定。
3.5.5.3區域：一個表面上，如果一束軸向光束的直徑是透光區的1/4或更少，則此表面應該分為中心區和外部區。中心區在寬度上是透光區的一半。光線區域尺寸應該3.7.11.1規定。
3.6膠合缺陷：膠合透鏡透光區內的膠合氣泡、空隙、不可分解雜質、幹污點、氣孔、灰塵不應超過3.5.3.1、3.5.4.1規定的麻點、氣泡限制定額。
3.6.1膠合面的表面質量：透光區的膠合缺陷應以膠合面是規定了表面質量的單個表面為基礎考慮，如果沒有規定，膠合表面質量應介於臨界面的中間。
3.6.2邊的分離：光學元件的邊的分離與膠合缺陷不應超過棱鏡或透鏡膠合面的倒邊，距離上為大於元件膠合面倒邊與透光區半徑之間距離的1/2。邊的分離與膠合缺陷的最大尺寸不應超過元件膠合面的1mm。邊的分離與膠合缺陷尺寸總和測得高於棱鏡、透鏡表面倒邊的1/2mm時，應不超過圓周的 10%。
3.6.3粘合缺陷（玻璃與金屬）：粘合的光學元件裝置沿粘結面邊有一個連續焊珠型的固化粘結物。
3.6.3.1空隙與分離：滿足3.7.2和3.8.2.5.2要求的，應該沒有空隙或者分離超過粘合區的10%。
3.7光學元件詳述
3.7.1操作溫度：膠合元件如果暴露在-80+/-2度，+160+/-2度華氏溫度下不產生羽狀物，會有分離、膠合軟化或其他缺陷出現（3.6規定的除外）。根據條例，邊分離或膠合缺陷增大可以拒收。
3.7.2相關濕度-溫度操作：膠合元件如果暴露在周圍環境+130+/-2度華氏溫度，至少95%的濕度，又持續暴露在空氣溫度-80+/-度，+160+/-2度華氏溫度下不產生羽狀物，會有分離、膠合軟化或其他缺陷出現（3.6規定的除外）。
3.7.3增透膜：圖紙規定的光學表面需鍍層的鍍上增透膜。
3.7.4光學黑化：光學元件精磨面應用認可的技術黑化。
3.7.5清晰度：每個物鏡、聚光透鏡、直立系統、目鏡、平面鏡、契子、視窗片、濾光片、棱鏡、棱鏡裝置需要根據4.2.5規定開展清晰度檢測。
3.7.6平行度、濾光片：濾光片的平行度在圖紙規定的公差範圍之內。如果沒有公差規定，在望遠鏡內或前面的濾光片不應超過光線偏轉的1弧分。位於接目鏡和出射光瞳之間的濾光片光線偏轉不應超過5弧分。
3.7.7光柵刻度間距：光柵刻度間距根據4.2.10.5檢測。
3.7.8拋光面：拋光面根據4.2.2檢測時，沒有灰色陰暗或條紋。
3.7.9透鏡：
3.7.9.1表面質量：透鏡的表面質量應根據可行圖紙或儀器規定。如沒有規定時，表面質量應如下：物鏡、直立系統、視窗片和焦平面外至少存在15個屈光度的其他元件，S/D應為80/50或更好。物鏡和聚光透鏡中心區的S/D為20/5，外部區域為40/15。目鏡的中心透鏡中心區SD為40/15，外部區域為40/20。接目鏡，不包括對稱性的接目鏡，中心區SD為40/20，外部區域為60/30。物鏡和接目鏡等同時，它們的中心區SD20/5，外部區域為40/15。在接目鏡和出射光瞳之間的濾光片的SD中心區的為740/20，外部區域為60/30。在內部的濾光片與3.7.10.1的棱鏡要求一樣。在物鏡前面的濾光片的SD80/50或更好。
3.9.7.2斷口和邊崩口：如果崩口不影響裝置上透鏡的密封，未侵入透鏡透光區的崩口是允許的。在最大端測得的所有崩口面大於1/2mm，這個面應該粗糙化，減少合金反射和其他崩口的可能。在棱鏡邊測得所有崩口寬度總和大於1/2mm，崩口總寬不應超過周長30%。任何面或邊的斷口應該被磨掉。精磨面積應該在本段崩口限制範圍內。精磨面的崩口和斷口總面積超過精磨面的2%或超過2mm厚應該拒收。如果石化崩口和斷口影響光學路徑、注膜或密封時無論尺寸大小都應拒收。
3.7.9.3同心度：精磨時所有元件的邊對應著光學軸直徑作為中心。由兩或多個元件構成的透鏡應該膠合，而且以每個元件的軸與其他元件軸的重合軸作為中心。目透鏡應該是6弧分之內的同心度。其他所有透鏡應該是3弧分的同心度，除非圖紙或規定另外有說明。中心化和膠合後，機械離心玻璃突出直徑公差50%的應該去除。光學離心定義為：與透鏡幾何軸重合的入射光線折射後的角度偏轉。
3.7.10棱鏡和平面鏡：3.7.10.1 表面質量，每個棱鏡的表面質量應根據可行圖紙和儀器規定。對於那些面，其焦平面外至少存在15個屈光度，它的SD80/50或更好。那些焦平面記憶體在5-15個屈光度的平面，中心區的表面質量為20/5，外部區域為40/15。焦平面記憶體在5個以內的屈光度，SD要求應於光柵相同。
3.7.10.2斷口和邊崩口：邊崩口未侵入棱鏡透光區的，在下列限制中可以存在：崩口總寬度不超過崩口所在邊的長度的30%。崩口從倒邊處測得，不是從尖邊處。例如倒邊後，非倒邊前。小於1/2mm的崩口不被考慮，不需石化。大於1/2mm的需要石化。從倒邊處棱鏡面測得崩口的侵入。如果緊靠拋光面的棱鏡最短邊的正常長度（測得倒邊前尖角）為≤25.4毫米，崩口可以侵入表面1mm；如果長度為＞25.4mm，可侵入表面2mm。如果崩口未影響注膜或密封，崩口沒有侵入透光區，上述崩口可以存在。肉眼可視斷口不允許存在。
3.7.10.3圖紙要求：角度差、尖塔差或由於金字塔形、球形，散光、清晰度、成像傾斜所引起的差的偏轉由圖紙規定。
3.7.10.4直棱鏡：直棱鏡根據4.2.5.2規定檢測。
3.7.10.5反射面-鍍銀或鋁。
3.7.10.5.1邊：目視透鏡一部分鍍銀的面的邊應該是尖形，規則狀。檢測時需放大鏡協助，放大倍數與棱鏡的相關。
3.7.10.5.2缺陷：反射面的缺陷與其他光學表面一樣，可用同樣的方法，3.7.10.1規定。
3.7.10.5.3透光區：光被穿透的棱鏡透光區應無其他加工面留下的銀或鋁顆粒。
3.7.11光柵：
3.7.11.1表面質量：表面質量由圖規定。沒有規定時，SD應遵照3.5.5.3的焦平面，區域尺寸除外。對於在中心面積內有光柵刻度端和那些在中心面積外有無刻度的水平和垂直線的光柵，它們的中心區應是中心面積，寬度上是透光區的一半。中心區域外有刻度的光柵，在寬度上1/2透光區，中心區應是中心面積，寬度上是透光區的3/4。在透光區範圍外的缺陷如果不影響儀器性能可以允許其存在。
3.7.11.2邊崩：邊崩限制根據3.7.9.2評價。
3.7.11.3平面的平行度：光線平面的平行度應該在圖紙規定的公差範圍內。如果沒有給定公差，公差應該是光線路徑偏轉6弧分。
3.7.11.4標記：光柵標記利用目鏡觀察，放大倍數與在成品儀器裏觀察光柵的放大倍數相同。主要檢測字母和數位（無論是在產品號碼還是靠近刻度的地方）的清晰可讀度。如果字母是清晰的，那麼數位或字母是可以接受的。除非另有規定，印刷體字母或數位是允許的，但是光柵裏所選字體必須統一，必須得到完成機構的認可。線攔腰分割線寬是允許的。光柵包括≥15線，每段包含5條線或斷面是允許的。所有的線應是統一的寬度和深度，線的橫斷面應是尖的。沿著線方向線寬的穩定變化或突然變化不應超過線寬的20%。任何情況下光柵線彎曲都不超過線寬的1/2.光柵線橫斷面填充半徑不應超過線寬。如果用合適目鏡觀察光柵時有可見酸燃燒，則應該引起拒收。
3.7.11.5照明光柵：用儀器燈或相同範圍的燈照射光柵線時，缺陷亮度高於光柵線的亮度，則缺陷應引起拒收。
3.7.12契子和視窗片：其表面質量應根據3.7.9.規定一致。
3.8光具組：
3.8.1未裝配的元件：按設計規定完成的未裝配的光具組根據與光具組相關的光學圖例進行裝配，根據4.2.9進行檢測。
3.8.2裝配的元件：按設計規定完成他們各自裝配的光具組將根據圖紙和儀器規格加工，根據4.2.10進行檢測。
3.8.2.1缺陷標準：此規則裏未包括的缺陷，沒有損壞成品儀器的性能的缺陷，是可以接受的。缺陷的接受與否取決於元件在成品光具組中的位置。元件如果離焦平面有一定距離，它的缺陷就沒有靠近焦平面的元件的缺陷後果嚴重。任何情況下應該著重強調的是棱鏡或透鏡的性能而不是它們的外形，除非後者確實說明它的工藝不精。重要的順序如下：
a.最精確的表面：
(a)光柵的腐蝕表面。
(b)焦平面內聚光透鏡表面。
b.一般精確的表面：
(a)光柵最近處物鏡表面。
(b)焦平面附近聚光透鏡、中心透鏡或棱鏡。
c.不精確表面：視窗片、物鏡、棱鏡、直立系統，目鏡。
3.8.2.2校準：所有完成裝配的光具組的光學元件進行校準，這樣從光學軸上觀察的出射光瞳，它的最小直徑為≥90%主直徑。在10%的出射透光區用目鏡在2英尺的距離從光學軸的一點觀測出射光瞳與出射透光區是同心的。
3.8.2.3密封連接：根據規定，濕的密封化合物應用到光學元件上，形成不易破裂的邊。注入密封化合物24小時後，方可觀察儀器。
3.8.2.4填充：使用填充、填隙、契子或光學元件下或周圍有間隙應該拒收，除非圖紙有規定。
3.8.2.5性能特徵:
3.8.2.5.1振動：光學儀器按照規定4.2.10.7進行振動檢測後，所含雜質應在規定的範圍內。如果沒有詳細的要求，任何所限空間的雜質不應在尺寸或數量上超過可允許麻點的規格。儀器持續此檢測時應沒有鬆動和損壞。
3.8.2.5.2衝擊：完成裝配的光學元件通過玻璃與金屬的粘合從其他元件那得到物理上的支援，因此需進行衝擊實驗。
3.8.2.5.3清潔：成品儀器光學表面應該清潔，沒有冷凝物和易揮發的物質。檢查方法如4.2.10.9。未經責任技術部門許可，禁止使用保留灰塵的油脂。
3.8.2.5.4視差：應該據4.2.10.4消除視差。
3.8.2.5.5固定目鏡焦距：除非另有規定，目鏡放置在-0.75-- -1.0屈光度時，物鏡中心的光柵應該在焦點上。一個有放大3倍的校準後的屈光度計或同樣的輔助望遠鏡可完成此項工作。
4.審核：
4.1通用條令：除非合同或定單上有所規定，賣方負責所有檢測要求的性能。除非另有規定，賣方可以利用自己的設施或政府認可的贏利性實驗室進行實驗檢測。政府有權開展產品規格中所列的任何檢測，這些檢測是保證賣方及其服務滿足要求的必要手段。
4.1.1檢查和測試：
a. 特徵分類：一致性檢查和測試根據特徵分類表規定的開展。立約人的質量程式或詳細的檢測程式保證了產品所有的特徵方面與圖紙和應用的規格要求，至少是性能標準所一致。除非合同和產品規定，特徵樣品檢測必須應用產品規格特徵分類表規定的檢測等級根據下表2開展。針對特徵的分類，有下列定義：
(a)危急的：危機缺陷指判斷和經驗表明：缺陷導致產品單獨使用、維護或依賴產品時，會有嚴重或不安全的狀況發生；或者缺陷有可能妨礙一個項目的戰術功能，像坦克、陸戰車、導彈、航母、炮彈或其他主要軍事程式。
(b)主要的：主要缺陷，次於危急缺陷，有可能導致失敗，或減少產品某個目的的使用功能。
(c)微小的：這種缺陷不易減少產品特殊使用功能或偏離幾乎不影響使用或操作的標準。
b. 可選擇的一致性條令:除非另有規定或合同提供，可選擇的一致性程式，方法，或設備，比如統計加工控制，設備工致，可變樣品或其他類型的樣品計畫等等，立約人至少提供條理要求的保證就可以使用。在應用這些可選擇程式、設備或方法前，立約人應該以書面建議的形式將這些內容呈交給政府以供評估。根據要求，契約人應證實每個可選擇的條令等於或好於規定的一致性條令。如果對立約人建議的可選擇的一致性條提供同樣的保證產生爭議時，應該應用標準的條令。所有認可的可選擇條令應該與立約人質量程式或檢測程式保持一致。
c. 檢測等級:此檔中所有檢測等級的參考和附錄都應使用上表2特徵樣品的檢測。
4.2檢測方法：
4.2.1光學元件檢測：光學元件檢測依靠可行的產品規格利用批准的光學方法和設備開展。如沒有批准的檢測方法與設備，應採用下列通用標準程式。在責任技術活動認可前應採用合適的樣品程式。
4.2.1.1 機械尺寸：應檢測每個光學元件的機械尺寸是否與圖紙的一致，應根據此標準要求的開展檢測。
4.2.1.2 放射性材料：拋光玻璃用X射線光譜儀技術或批准的可選擇的技術開展檢測，符合3.2.1.1。開展X射線螢光的設備和方法，其釷和其他放射材料最小可覺察的等級為100ppm，有+/-25ppm的誤差。樣品不符和3.2.1.1要求的，此批所有的玻璃應該拒收。
4.2.1.3表面質量：元件應利用下列方法符合3.5.2、3.5.5、3.6.1、3.7.9.1、3.7.10.1的要求開展檢測。
4.2.2.1檢測方法1：待檢元件應該從距離玻璃大約3英寸的地方用40瓦白熾燈泡或15瓦冷白熒燈照射背面，觀測其精磨玻璃或乳白表面。大約佔據1/2玻璃面的兩或多個不透明水平棒放在玻璃前或與玻璃相連。
4.2.2.2方法2：從40瓦或15瓦發出的光穿過精磨玻璃應該穿過元件。光徑與黑色背景區成大約90度時，光從表面分散可觀察到缺陷。
4.2.3溫度測試
4.2.3.1測試1：取每種型號膠合或粘合元件10片中的3片，在高低溫下開展檢測，根據3.7.1規定。如有因懷疑其質量，檢驗員認為必要時則有權要求開展額外樣品檢測。經過這些測試的元件將通過其他所有要求的測試。
4.2.3.2測試2：膠合或粘合元件應在-80+/-2度F下5個小時。在此溫度下視覺上檢測，然後在室溫下放置5小時後再檢測。光學設備上沒有羽毛狀或網狀的表面元件沒有分離現象。開展此實驗時光學儀器冷卻至-80度或升溫至室溫過程中不應受到任何熱衝擊。
4.2.3.3測試3：膠合光學裝配在高溫下應該開展以下測試。元件被嚴格固定，方法為它的膠合分介面大約在垂直面。擴大重量導致光學裝配中膠合或粘合面每平方英寸5央司的抗煎應力受到其他元件的停滯。在任何情況下重量都不小於1央司。整套裝置可以在周圍溫度+160+/-2F度2小時。透鏡在室溫下檢測符合4.2.6規定的要求，並且一個元件與另一個的運動或滑動不超過0.002英寸。開展此實驗時光學儀器升溫至+160度或冷卻至室溫過程中不應受到任何熱衝擊。
4.2.3.4故障調查：光學裝置的故障阻礙了正常的發貨，應展開調查原因。如果合同簽定公司代表希望得知裝置故障的原因，那麼立約人應該在其公司管理人員代表在場的情況下立即展開調查。如果調查顯示原因在於膠合或粘合，將不接受此光學裝置以及它的膠合或粘合缺陷。立約人應改正膠合技術及改正先前生產的錯誤的光學裝置。取此種型號的拒收品10片，經過檢測，成功通過溫度檢察後再認可和發貨。
4.2.4溫度-相關濕度：
4.2.4.1樣品尺寸：合同初期取每種型號膠合或粘合元件10片中的3片，或者一旦改變膠合方法或膠合類型時，，在規定的溫度、濕度下開展檢測。如有因懷疑其質量，檢驗員認為必要時則有權要求開展額外樣品檢測。
4.2.4.2檢測步驟：膠合或粘合元件在乾燥環境下應逐漸加熱至+140+/-2F度，然後立即放置於95%濕度、周圍溫度+130/+/-2F度，時間為2小時。光學裝置從濕環境中取出後立即擦幹，冷卻到室溫。8小時後，元件開展4.2.3.2及4.2.3.3規定的檢測。無論何時光學裝置有邊的分離或實驗增加初期有膠合起泡，或者3.6規定之外另有膠合失敗現象時，應在相同步驟下重複本段規定的檢測。元件沒有通過最初的檢測，或膠合缺陷改變，或重新檢測後另有膠合缺陷發生，這些都應拒收，包括那些從相關批次挑選出來用於檢測的、膠合缺陷可以存在的那些光學裝配。所有元件被認可前如果要求，則應該再開展濕度檢測，重新膠合與鍍膜。
4.2.4.3拒收標準：未通過4.2.4檢測規定的元件，應按4.2.3.4規定的同樣方式處理。
4.2.5清晰度檢測：清晰度檢測是標準的檢測，使用分辨放大倍數圖表來開展，看圖1。分辨放大倍數檢測光學性能。分辨放大倍數是一系列可以分辨的平行晶棒的對角邊。通過觀察包含相等間距平行晶棒的圖表，測得分辨能力。使用望遠鏡獲得足夠的放大效果。分辨放大倍數圖表由4套線組成，每套包括3或4條線，成45度（水平、垂直、2個成45度）。3條線的那套，它的線是其實際線寬的5倍。4條線的那組，是實際線寬的7倍。線的寬度與間距的寬度是同等的。白色背景下是黑色線，黑色背景下是白色線。在4套線中心有一個識別數字。對比是100：1。正確尺寸的圖表可以在准直儀裏，或者直接可以觀察。如果直接觀察，圖表應該距離望遠鏡至少2M2英尺，M是正被用於檢測的望遠鏡的放大倍數。圖表的對角邊測得用秒表示，相當於反正切2W/X。W指圖表線的寬度，X指准直儀焦距或圖表到望遠鏡的距離。望遠鏡校準，這樣圖表在視線中間。增加輔助望遠鏡，方向至圖表中心。輔助望遠鏡屈光度為0，這樣檢測中的望遠鏡可集中於分辨放大倍數圖表中心的數位。讀分辨讀數時，輔助望遠鏡定焦在4條經線中的一條+/-1/8屈光度。所有經線有正確的線的讀數。觀察到的每條線沒有被清楚地分離，則達到了分辨極限。
4.2.5.1物鏡和直立系統：利用上圖表檢測物鏡和直立系統時，上圖表應該放置到正確的距離，物鏡或目直立系統所成的像用標準要求的或合同規定的放大倍數的顯微鏡觀測。這有可能斷定相當於分辨的圖的線的結構。圖表應該被照明，這樣成像亮度為10-20的10-3朗伯。
4.2.5.2透鏡：透鏡作用於正進行檢測的成品儀器清晰度時，儀器的合格的另一光學元件像放置到實際儀器裏一樣放置妥當。透鏡放到給定位置，通過輔助望遠鏡（透光區每英寸放大40-60倍）觀察圖表。有可能斷定要求清晰度的線的結構. 圖表應該被照明，這樣成像亮度為10-20的10-3朗伯。非合同人生產的 需要進行此項檢測的光學元件必須由合同管理人員安裝。
4.2.5.3成像：表面元件用其外形作用到光學系統上。從元件的透光區觀察清晰度檢測，成像在圖1顯示。用至少放大5倍的望遠鏡（大於元件與眼睛之間的光學系統的放大倍數）觀察成像。
4.2.5.4光學元件或未裝配元件：光學元件及部分未裝配元件根據詳細標準及合同檔進行檢測。
4.2.6透鏡的同心度：檢測膠合和單個透鏡的同心度，根據3.7.9.3要求。4.2.8 列出的儀器及改革件，須進行此項檢測，准直儀光柵除外。准直儀裏的光柵集中放到組合透鏡（由准直儀物鏡、正進行同心度檢測的透鏡和允許透鏡以幾何軸為中心旋轉的工作臺組成）焦平面上，整個佈局允許透鏡。
4.2.7棱鏡偏轉：使用光譜儀檢測透過棱鏡的光線來檢測棱鏡偏轉角度。
4.2.8平行度：視窗片、契形，光柵或相似平面元件，通過檢測通過其光線的偏轉來檢測面的平行度。
4.2.9未裝配光學裝置的檢測：
4.2.9.1光學元件：此類元件進行4.21-4.2.8列出的檢測。
4.2.9.2裝置、光學元件組：元件組合到裝置裏以便檢測、發貨。它們根據與裝置匹配的光學圖紙的要求相互分隔，裝配到主儀器或測試器檢測其清晰度和成像質量。不符合要求的元件將被替換。（看圖1，檢測目標，4.2.10.2，4.2.10.3檢測大綱）
4.2.10已裝配光學裝置的檢測：4.2.10.1 光學元件，這些裝置的光學元件按4.2檢測。
4.2.10.2標板：用於光學裝置檢測的標板可以與實際標板同等尺寸或者准直儀裏的小標板。在白色背景上印上黑線可以做成實際尺寸的標板。准直儀裏的是實際尺寸標板的縮小模型的蝕刻或照相光柵。標板根據詳細標準、要求從普通交叉線到包含垂直線、平行線、公差限制、刻度範圍的標板（看 圖1清晰度檢測標板）
4.2.10.2.1准直儀光柵：准直儀裏的光柵單格可以調整，這樣光柵可以接近/背離物鏡來表示外面標板放置的不同的外面距離。例如，從200碼處觀察標板，准直儀標板用於檢測，望遠鏡規格要求儀器沒有視差。此時調整准直儀光柵來表示不同的距離就很必要了。在200碼距離觀察外部標板，然後使用同樣的望遠鏡調整准直儀光柵，直到通過望遠鏡看准直儀光柵，觀察不到視差為止。
4.2.10.2.2圖像質量：准直儀標板用於檢測望遠鏡圖像質量時，象差有適當的公差，准直儀物鏡的象差看起來是用望遠鏡檢測的缺陷。應該消除這些象差的影響。
4.2.10.3儀器，檢測：在必要的地方，使用光度計或同樣的輔助望遠鏡觀察物鏡來彌補檢測員視力的不足。
4.2.10.4視差：物鏡中心應沒有視差，除非標準另有規定。
4.2.10.5光柵刻度間距：通過檢測光柵刻度間距對角邊的標板來檢測其準確度。標板是光柵放大的範本或准直儀光柵標板。放大的標板在白色背景下黑線或標記，放置在正確的位置上，其標板面垂直於望遠鏡視線所在的線上。
4.2.10.6表面質量光柵：用放大鏡觀察光柵是否與3.7.11.1一致，放大倍數等於或大於望遠鏡的觀察透鏡。燈光與方法與4.2.2規定的相同。
4.2.10.7振動檢測：光學儀器單獨安裝和組裝在振動機器和裝置上，在振幅不小於1/16英寸（在裝置安裝面中心總運動軌跡1/8英寸）頻率30赫茲2到2分半時間內振動。
4.2.10.8衝擊檢測：膠合或粘合裝置上的衝擊檢測。如沒有具體的要求，每個裝置要經受膠合面平行方向上的加速衝擊，以檢測其粘著力或膠合粘合面的不完整的處理。加速振動時間大約是正弦函數的半週期，時間為0.7到2.0毫秒。高頻率元件的振幅比加速曲線不超過基本振幅的30%。除非另有固定，每個裝置經受150G加速的6次衝擊。
4.2.10.9清潔：裸眼通過物鏡和目鏡觀察其光學裝置。利用陰影技術檢測其濕度，觀察亮度為300透明的英尺伯朗的透光區檢測灰塵顆粒。
5.包裝：
5.1包裝：包裝要求應與合同或定單規定的一致。材料的實際包裝由國防部人員開展時，這些人員需要聯繫相關的責任包裝來確定必須的包裝要求。包裝要求由軍事防禦部門或系統指揮軍事部門的庫存控制包裝事宜掌控。軍事部門或防禦機構自動化包裝檔，，CD產品或聯繫責任包裝事宜的包裝資料修補是有效的。
6.備註：（本節包含的一般或說明性的備註可以有用，但不是強制的）
6.1計畫使用：光學元件使用於軍火控制儀器，像瞄準器、望遠鏡、窺視窗、測距儀、單獨的光學元件、部分或完整的裝配，和加工的、未加工的等，根據合同要求。
6.2要求：檔應規定以下：
a. 此規定名稱、代碼及日期
b. 選擇的可行的保存、包裝級別
c. 認可的質量報告
6.3定義：
6.3.1劃橫表面的標記或裂縫。劃橫類型鑒別如下：
a． 塊-鏈狀濕氣或插入的劃橫
b． 滾動-切割或切割痕-精磨引起的曲線劃橫
c． 光滑的-絲狀劃橫
d． 壓榨或摩擦-操作不當引起的小的表面劃橫
6.3.2麻點：在拋光面上一個小的粗糙點，相似於表面上的凹點，通常未拋光的或有氣泡的精磨引起表面損壞的殘餘。
6.3.3羽毛狀：膠合形狀改變引起膠合失去粘性，發展成羽毛狀。
6.4一致性條令的從屬：所有立約人建議這些條令應該受到政府的評估指導。
6.5圖紙：本標準第二節美國軍隊研究發展工程中心列出的圖紙可以包括美國軍隊研究發展指揮部，FRANKFORD ASERNAL，ROCK ISLAND ARSENAL和PICATINNY ASENAL圖紙。這些機構準備的技術資料得到美國研究發展工程中心的認可。
6.6列出的標題術語：
a.麻點
b.光柵
c.劃橫
d.表面質量
6.7先前問題的改變：本修正中未使用的旁注識別因範圍變化引起的以前的問題。
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