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标题: 请教光束测量 [打印本页]

作者: fvalley 时间: 2006-3-3 21:00
标题: 请教光束测量
请教, 光束测量
对于测量连续光的光束, 现在我知道有两种方法: CCD成像和狭缝扫描(slit-scan)
这两种测试的到光束的到的结果有什么差异? 哪种更好?

作者: fvalley 时间: 2006-3-6 20:43

顶顶. 希望得到回音.

作者: ecnugzh 时间: 2006-3-8 16:51

狭缝测量是传统的测试方法，可能比较繁琐；

CCD光束质量分析仪应该是目前最通用的光束质量测试仪器了，测试过程方便、快捷；

但两者的测试结果有何区别没有比较过；

一套光束质量分析仪大约在2、3万人民币左右！！！

作者: mcraelee 时间: 2006-3-23 05:39

当然CCD要好一些，但要正确的使用其软件，在比较差的CCD系统中，缺点是对光强的测定不准确，

在最好的CCD系统中，在正确的操作下，一切OK

作者: fvalley 时间: 2006-3-26 16:37

弄明白了点,各有优缺点.

CCD测试是实时, 测到的光束图象二维/三维是实际的,图象分析更完整,同时能测量脉冲和连续光. 但正如楼上所说,对强光测试不准确,需要衰减,非实际的光,因为像素限制,对小光束或聚焦光束无法测试.红外CCD价格高, 测试系统价格高.另大光束测试也会受CCD大小限制.

狭缝测量是准实时, 测到的光束图象二维/三维是模型计算的,一般只能用于测试连续光. 但有高的分辨率精度,可以用于测量小光斑和聚焦光斑(几个um),光束的精细结构可以测量到,系统本身具有衰减功能(原理性),可直接用于测量强光. 狭缝测量制造难度比较高,对于可见光系统,价格明显比si-CCD要高,但对红外系统,红外探测器的价格对系统影响不大,价格也就比红外CCD的系统低多了.

测试繁琐程度, 我认为是一样的.

以上是我的鄙见. 欢迎指正.

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