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标题: 欢迎大家评论镀膜监控方式的优劣 [打印本页]

作者: cikelong2000 时间: 2006-3-22 01:23
标题: 欢迎大家评论镀膜监控方式的优劣
不知大家对现在所用的控制方式有什么优缺点，大家可以说说他们的好坏以及性价比最高的的使用方式

作者: cikelong2000 时间: 2006-4-12 23:00

为什么没有人回答呢，镀膜监控难道不重要吗？希望大家说说自己公司的情况

作者: huhu 时间: 2006-4-25 19:15
呵呵～等你开题呢～～～

作者: chz321 时间: 2006-4-28 17:58

哈，各有各的优点和缺点，光控适合用在规整膜系上，晶控适合用在非规整膜系上，

作者: u58344126 时间: 2006-4-28 23:17
鍍AR用晶控較穩定

作者: wazxq 时间: 2006-4-29 00:03

好的光控那和晶控区别大了~~~~~~~

作者: zzzz 时间: 2006-4-29 16:08
老铁了........................

作者: buwzh 时间: 2006-9-30 08:29
我們用時間控制,是不是太落後了

作者: xiepianmian 时间: 2006-10-8 23:04

我们用的是晶控，还可以！

作者: tails3582 时间: 2006-10-16 20:42
、、我们机器很贵的，也用的是时间监控，落后咯？

作者: kuan 时间: 2006-10-30 16:59

[B]以下是引用[I]tails3582[/I]在2006-10-16 12:42:00的发言：[/B][BR]、、我们机器很贵的，也用的是时间监控，落后咯？

作者: qin-optics 时间: 2006-10-30 19:07
如果镀的膜层多,我认为该用光控,如果镀的膜层少用晶控好,因为晶控的误差是叠加的．

作者: raofengx 时间: 2006-11-3 00:02
光控也可以用在非规整膜系的监控上，效果还可以。比较薄的膜层用晶控好一点，比如，几何厚度小于5nm的。

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