光电工程师社区
标题: 光学检测中光圈数和PV值的关系 [打印本页]
作者: frank1214 时间: 2006-6-8 01:19
标题: 光学检测中光圈数和PV值的关系
在实际中,光学图纸对光学零件的要求用光圈数和局部光圈表示,而在加工出来后用zygo干涉仪检测却是pv和rms值,请问这两者之间有什么关系。
作者: hffy 时间: 2006-6-9 18:16
是呀!为什么没有高手出来说明?
作者: kitten 时间: 2006-6-10 23:49
不会啊,用ZYGO可以测出光圈,局部光圈,PV。RMS。不同的设置测出来的是不同的。并不是出来的都是PV。光圈和PV的关系是:光圈好的。PV肯定好。PV好的。光圈不一定好。PV是光圈的波峰和波谷的相对值。不考虑局部误差的影响。说光圈时一般要考虑局部光圈误差的影响。
作者: zl93917790 时间: 2006-7-1 22:37
斑竹用的是zygo 吗?
用该仪器测量光学零件的光圈(N),读的不是很准,要读的话就是软件上面surface map 中的power值,不过要把单位转化成光学单位。至于局部光圈读profile map中的pv直,很准确,把surface map 中的line放在最高点和最低点位置,看高或低所占的pv的比例就行
作者: ljfwhj 时间: 2006-9-19 04:54
干涉仪测量出的结果与图纸要求的光圈数不能建立起联系!!
图纸中的光圈数是加工元件与样板的偏差而产生的干涉条纹数;而干涉仪测量时,参考球半径(类似于样板半径)可变,条纹多少是可以变化的,测量结果(PV和RMS值)是加工元件与最接近参考球的偏差!!!!
作者: 三面互检 时间: 2006-10-13 23:44
有一种经验公式可以对应
作者: 一本假正经 时间: 2006-10-14 03:24
有台FUJI的干涉仪在桌子上,但是都没有人用过,反正我是不会用的。
现在球面都是用样板,没有样板的情况少之又少,没有就只能用轮廓仪了。
作者: 三面互检 时间: 2006-10-22 21:42
那干涉仪和样板,那个准呢?
作者: eagle1 时间: 2006-10-23 01:43
那干涉仪和样板,那个准?干涉仪准.
作者: tianxia 时间: 2006-11-8 02:02
一道圈是面型偏差有二分之一个波长大小,546.1nm是标准波长,PV是面型偏差的最大值,除以546.1就是几分之几波长,和二分之一个波长比较,有几个二分之一波长就有几到圈
作者: mydream 时间: 2006-11-26 04:34
上海光机所徐老师在8月结束的第十一届光学测试学术讨论会上关于该问题做了较详细的讨论,建议找其资料研究研究。
作者: weijiatao006 时间: 2007-9-29 21:05
ZGO比较准

作者: disidai 时间: 2009-10-13 13:53
我有两个疑问,
1,lz的问题是,光学图纸对光学零件的要求是光圈数和局部光圈数,那么,为什么没有提到像散光圈数呢?
2,我看回复里有两种观点,一个是干涉仪测得的pv值与图纸要求的光圈数无法建立联系;另外一种是有经验公式,那么哪种观点是正确的呢?
有没有相关文章或者著作可以参考?
作者: xinhua_chen 时间: 2009-10-13 19:17
原来如此,我算是明白了.
作者: zhongjiayue 时间: 2010-11-16 15:50
eagle1 发表于 2006-10-23 01:43 
那干涉仪和样板,那个准?干涉仪准.
不知您考虑过这个问题没?ZYGO的菲索型干涉仪在得到PV值为0.1wave ,这个wave是红色激光波长632.8nm还是已经换算成标准波长546.1nm呢?还不太明白呢?如果已经换算过了,就方便了,2个圈是1.0wave(标准波长546.1),不知道ZYGO测出来的PV是不是1.0wave?
作者: zhongjiayue 时间: 2010-11-16 15:51
tianxia 发表于 2006-11-8 02:02 
一道圈是面型偏差有二分之一个波长大小,546.1nm是标准波长,PV是面型偏差的最大值,除以546.1就是几分之几波长 ...
ZYGO的菲索型干涉仪在得到PV值为0.1wave ,这个wave是红色激光波长632.8nm还是已经换算成标准波长546.1nm呢?还不太明白呢?如果已经换算过了,就方便了,2个圈是1.0wave(标准波长546.1),不知道ZYGO测出来的PV是不是1.0wave?
作者: zhongjiayue 时间: 2010-11-16 15:52
刚才引用错了。
作者: wangjianheng1 时间: 2010-11-26 08:50
路过
作者: emilyhu1 时间: 2010-11-30 15:55



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