200路LD老化试验台简介
现在激光器的应用越来越广泛，激光器的特性备受关注，我公司基于老化技术以及国标 《半导体分立器件试验方法 》 相关要求设计的LD老化试验台可以模拟LD的各种工作环境，测试LD在不同工作环境下的各电参数和光参数，并进行分析，从而提高元器件产品整体的可靠性，使得产品性能更加可靠 。整个LD老化试验箱的基本组成包括：LD卡具、温度控制、LD驱动和光特性分析等四部分组成。采用抽屉式积木结构将各功能部分与试验箱组合在一起。
其主要功能如下：
一、LD卡具部分：
激光器的封装形式一般分为蝶形封装和同轴封装两种形式，LD卡具类型基本的方式对应有两种，分别是14脚的碟形封装结构和4脚的同轴圆形结构。每100个相同封装结构的卡具集中做到一个恒温槽上，构成一个实验平台，即每块试验平台上安装100个卡具（蝶形或圆形），每个卡具的引线从台子下方单独引出并与LD驱动电路相连接，这样每块试验平台可实现100路LD功能测试。用两块试验平台级联可以实现200路测试，根据不同客户的需求通过级联扩展试验平台可进行更多路的测试。
二、温度控制部分：
整个老化箱的温度由安装在最底层的温度控制部分进行控制，实现温度的调整。LD恒温控制靠恒温槽实现，200路恒温箱温控部分有两个恒温槽A和B，每个恒温槽（即安装100路卡具的试验平台）可控制100路激光器的温度，通过PC机来控制恒温槽工作，这样恒温槽A和B就实现200路老化台的温度控制。老化台上的智能温度控制器及合理的电路系统使温度控制精密准确 、稳定可靠，可测试元器件在不同温度下的性能参数 。
三、LD驱动部分：
LD驱动部分按每块驱动板驱动10路LD设计，若要求测试200路则做20块驱动电路板重叠放置，封装在试验箱中。每路都与PC机相连，可分别测试每路的参数并在PC机上显示并分析结果。LD 的驱动方式包括自动电流控制和自动功率控两种方式，以满足不同客户的需求。在元器件性能允许范围内，通过PC机对LD的驱动电流 、驱动电压、驱动功率及驱动脉冲等参数的大小进行设定，测试其在不同条件下的特性参数及特性曲线。
四、光特性分析部分：
为了测试LD的光特性，本装置还配有两维移动测试平台，根据客户需求在测试平台上配备相应的光功率计、波长计、光谱分析仪等仪器，通过对相对位移的设定，可逐个测试每只LD的光功率、光波长、光频谱图等参数。在元器件性能允许范围内，通过PC机对LD的驱动电流 、驱动电压、驱动功率及驱动脉冲等参数的大小进行设定，测试其在不同条件下的光特性参数及光特性曲线。
其主要性能如下：
一、技术指标：
1、 温度稳定度：0.01℃
2、 TEC最大驱动:5V /5A
3、 If电流：最大2A
4、 LD电压：最大6V
5、 If稳定度ACC：＜0.1%
6、 光电探测器接收灵敏度：0.87A/W
7、 光电探测器线性范围：-70~+10dBm
8、 温敏电阻两种常量选择：10K/25℃ B＝3450；B＝3900
二、测量参数：
1、 自动绘制L-I、V-I、Im-I、dV/dI、dL/dI五条特性参数曲线
2、 光输出功率（Power）
3、 阈值电流（Ith）
4、 阈值电压（Vth）
5、 指定功率点对应的LD电流（Iop）
6、 指定功率点对应的LD电压（Vop）
7、 指定功率点对应的内PD电流（Im）
8、 指定两点间功率效率（Eta）
9、 指定两点间功率效率变化率（dEta）
10、LD电阻值（Rd）
11、指定两功率点间的电阻值特性变化率（dRd）
12、指定两功率点分别对应的扭折特性（Kink1）
13、指定两功率点间扭折特性最大差值（Kink2）
14、热敏电阻值（Rtemp）
同时我公司还可根据您的需要，为您量身设计最经济可靠有效的LED、OLED整套老化设计方案。
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