我是个新手,请大家帮忙。谢谢!
我用直流磁控反应溅射的方法制备Ta2O5薄膜,Ar:O2=4:1,在1.0Pa时起辉,电流、电压可以分别控制在
0.15A、500V;当降低气压至0.6Pa开始制膜,电压就会超过1000V(超过了量程),电流降到0.05A以下,而且得到
薄膜平整度较低(300nm,RMS=1.2nm)。
以前设备状态好的时候,在0.6Pa的气压下,电流、电压可以分别控制在0.15A、700V,薄膜平整度较好(300nm,
RMS=0.3nm)。
这种问题怎样解决阿?
工艺参数是否被改动了?
设备是否处于正常状态?
应该用射频溅射比较好吧
你用的什么型号,那个公司的机器啊,资料过来看看。镀的什么东东。我开看看,在给你答案。e-mail:acer_wu@hotmail.com.
hanxing,我可以通你交流吗?我的MSN:caodahua@hotmail.com;QQ:36496431
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