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标题: 第二届光电子探测与成像技术及应用国际学术会议 [打印本页]

作者: gobetter 时间: 2007-6-14 09:38
标题: 第二届光电子探测与成像技术及应用国际学术会议
第二届光电子探测与成像技术及应用国际学术会议及展览会

会议及展览时间：2007年9月9日—2007年9月12日

会议及展览地点：中国.北京理工大学中心教学楼

组织机构:

主办单位：

中国兵工学会

北京理工大学

国际光学工程学会（SPIE）

协办单位：

北方夜视技术股份有限公司

北京威斯顿亚太科技有限公司

日本滨松光子学株式会社

中国宇航学会光学专业委员会

中国光学学会光电专业委员会

北京市光学学会

承办单位：

中国兵工学会光学专业委员会

北京理工大学信息科学技术学院

论文集出版单位：国际光学工程学会(SPIE)

展览承办单位：北京高博特广告有限公司

一、会议及展览主旨

1. 为国内外光电子探测与成像的专家、学者、企业提供一次技术展示与研讨的机会。

2.为国内外企业搭建一个相互了解的桥梁！

二、参会人员

本次会议将汇集世界各国共500名在光电行业作出卓越成果的专家、学者、企业高层发言。为参展商提供一个与国际光电著名人士面对面交流

的机会！

三、会展观众

1.大会主席与500名参会人员将到场参观。参展商可以借此交流技术、商讨合作。

2.大会将组织企业买家到场参观，为参展商带来大量的销售机会。

3. 组织各大中院校的师生到场参观，提高参展商的知名度和美誉度，建立良好的企业形象。

四、参展范围：

1.光电子成像：像管(像增强器与高速摄影变像管)；光子计数器件与系统；摄像器件与系统；电子光学，微通道板、光阴极、荧光屏；微

光成像系统。

2.光电子探测：光电探测器材料；光电探测器；非致冷探测器；探测器性能检测与评价；红外成像与探测系统。

3.图像处理：像质评价与改善；模式识别，图像融合与超分辨力；多维图像处理技术；三维图像获取与处理。

4.光电系统设计、制造与检测：新型光学系统设计与优化；微光学与二元光学及其应用；先进光学制造与检测技术；非球面和自由曲面元件制

造检测技术；光学薄膜。

5.相关技术与应用：太赫兹技术；激光探测与成像；极紫外和X射线探测与成像；光电探测系统成像与评价；光电探测系统应用。

6.激光材料、激光器及激光应用、红外材料、技术及其应用、光电显示及照明、光学元件、仪器、材料、光通讯技术及应用。

五、参展费用：

标准展位2米×2米：5000元/单元；（包括咨询桌一张，椅子两把，展板，中英文双语楣板字，射灯两个，20V插座一个）

光地展位20000元/16平米；（16平米起租，场地内不含任何设施，特装费自理）

参会费用：1200元/人，外宾：450美元/人

参展联系：北京高博特广告有限公司

联系人:孙柏山（先生）13641190351

　　　　唐敏（小姐） 13693053774

电话：010-88587506/07 传真：010-88587416

地址：北京市海淀区长智路5号财智公馆701/702（100089）

详细情况请点击: http://www.gobetter.com.cn/huiyi/guangdian.htm

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作者: gobetter 时间: 2007-6-14 09:40
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