光电工程师社区

标题: 关于TFC求nk的问题 [打印本页]

作者: fawang 时间: 2007-7-5 19:53
标题: 关于TFC求nk的问题
大家好，我最近用TFC求nk，用formula法，可到最好算出的nk相差很大的，
用TFC材料库中的TIO2模拟700nm，5个peak，得出的T作为测量值，反推回去，可怎样偏差都很大，太大了。（至少15％）
各位大侠，谁有这方面经验？请教一下,什么原因，有软件方面的原因吗？

作者: zzzz 时间: 2007-7-6 08:23
镀那么厚干吗?
那么厚的膜蒸发的未必均匀,如何可以算准了.

作者: hydralisk-1 时间: 2007-7-6 15:26
下个MACLOED试用版计算N,K很好做,也比较准
1,测量400nm厚的TIO2膜单层T曲线,300~1100nm范围,0.5步长,光度计SLIT2.0以下.最好是绝对值测量的数值.不要参考测量的.那个数据不大准确,通常会大于未镀膜基板的透射率,这样就无法求消光系数了.
2.在MACLEOD中打开NEW-----OPTICAL CONSTANT------选取TRANSMITTANCE子项,然后在FILE下IMPORT保存的TIO2单层透射率数值.然后就是取点(1/4和1/2波长处).取完点就可以计算了,点主菜单calculate,设置参数,主要就改两个,一个是选择SUBSTRATE,也可以自己测量SUB的T数值导入.另一个是APROXIMATARY的选择,默认是1.5,但是模拟出来的T曲线通常会和实际测量有很大差异,这时可以把此值改大一点.其他的参数可以不动.点EXTRACT N/K,然后在OPTICAL CONSTANT子卡结果就都出来啦!很方便.
注意,因为我们只用TIO2单层的透射曲线来计算N/K,所以计算时是假设膜层必须是HOMOGENIOUS和ABSORBING的,
最好是能够准确的测出镀膜基片的T/R曲线,TIO2单层的T/R曲线,(如果不是绝对测量,通常在有的波长点T+R会大于100%,就会无法计算了)这样就可以认为TIO2单层是INHOMOGENIOUS和ABSORBING的了.出来的结果也更符合实际情况.

作者: zzzz 时间: 2007-7-6 16:44
准确测试谈何容易啊
////////////////////////////

作者: hsliu8358 时间: 2007-7-6 21:29
根本不可能计算出准确值!!!!!!

作者: tfc 时间: 2007-7-7 11:47
过去经验，用椭偏仪测，同样仪器，我们测和算结果不好．请老外搞（合作者）用起来准．
ＴＦＣ我后来先设ＮＫ再吻合曲线，还行．计算不准是你不知道用哪个公式是最佳，造成偏离．

作者: fawang 时间: 2007-7-7 13:37
谢谢大家的指教，可能我没说清楚，我的意思是：
1。我先用TFC模拟镀单层膜TIO2，参考波长700nm,5个peak,然后将模拟出来的T保存起来，
2。将模拟出来的T值当作实际镀膜后的测量值，并将这些T值带入到formula算法要的测量值中。
3。虽然选用不同的公式，甚至K值（取K=0）和膜厚(D=375.86nm)都有取过第一步模拟时的值，但模拟出来的值始终都有很大的偏差（15％以上）。?????????
4.我记得曾经有一次有取K值（取K=0）和膜厚(D=375.86nm),算出的值比较接近第一步的NK(但其它公式或膜厚估计值时就相差非常大).而这次不管我怎么变都相差很大??????????

还请各位大侠指教!!!!!

作者: tfc 时间: 2007-7-7 17:59
有许多问题,随便举几个:同一块玻璃镀前后测T,采样波长范围要小,每次镀膜TOOLING不同,有没有做到最小吸收?每个PEAK植是否相等?

作者: fawang 时间: 2007-7-8 00:28
标题: 回复 #8 tfc 的帖子
^_^，所有一切都是模拟的，并没有实际镀，我在7＃有解释

作者: fawang 时间: 2007-7-10 23:15
怎么没人解疑呀？

作者: zzzz 时间: 2007-7-11 08:18
formula算法??是什么啊?
只要设置的参数正确可以拟合出NK

作者: fawang 时间: 2007-7-11 19:21
标题: 回复 #11 zzzz 的帖子
就是用材料公式法呀，照理说我这样反推回去不存在测量误差呀？可我怎么都模拟不出来呀？你是怎么模拟的呀？能否教教小弟？

作者: ljwht 时间: 2011-4-21 01:04
现在解决了吗？

欢迎光临光电工程师社区 (http://bbs.oecr.com/)