标题: 北京奥博泰公司将参加深圳光博会（６号馆６０７０）诚邀您光临 [打印本页] 作者: cikelong2000 时间: 2007-8-28 16:57 标题: 北京奥博泰公司将参加深圳光博会（６号馆６０７０）诚邀您光临 尊敬的先生/女士，您好：
北京奥博泰科技有限公司将于2007年9月6日-9日参加深圳光学博览会，公司展位号为6号馆6070，我公司诚邀您及镀膜行业的专家进行技术等多方面的合作交流。
北京奥博泰科技有限公司作为北京市高新技术企业，自成立十几年以来，始终致力于光电检测产品设计开发和生产销售，产品覆盖了光学镀膜检测、建筑玻璃检测、光谱测量仪器，以及各种行业的颜色、光学性能测量。作为光电检测专家，奥博泰公司可以随时提供一流的技术支持和工艺方案，最大化的满足不同客户的需求。
近年来，随着高科技产品的不断更新与发展、高精度的光学仪器以及数码产品质量和性能的不断提高，光学产品对元器件的要求包括对光学镀膜的特性和精度的要求越来越高，这样对于镀膜监控的性能及精度也提出了更高要求。针对这一现状，奥博泰公司在公司1998年与北京理工大学国家薄膜光学实验室合作研制成功了国内首台光学薄膜宽光谱监控系统，现在的新型宽光谱监控系统已有几十家用户，国产光学监控全自动镀膜机已经研制成功并且已经与知名镀膜厂商合作。公司系列光学镀膜相关产品，包括：
1. Filmonitor BS宽光谱光学镀膜在线监控系统---基于全光谱监控方式
l 直接观测最为关心的薄膜透过率或者反射率曲线，而不是间接地测量膜层厚度；
l 实时分析镀膜过程中的光谱曲线，及时做出误差分析，通过修改折射率或膜层结构使镀膜结果更接近理论设计；
l 显示和控制非常直观、简单，成膜质量不再依赖于操作工人的经验，提高质量和不同批次间的质量同一性；
l 软件的镀膜过程存储功能，对于大批量生产来说，保证了质量同一性。而对于小批量频繁更换镀制膜系来说，大量减少了工艺试验的时间；
l 软件的膜料折射率和吸收测量功能，使得膜系的调整和工艺的调整变得简单；
l 软件的数据回放功能可以更好更直接的分析镀膜过程中出现的问题；
l 软件的目标光谱曲线功能最大地消除了理论光谱曲线与实际光谱曲线之间的误差，对于成功镀制任意膜系来说都能得到更高的可靠性；
2. Filmonitor AM3000智能化光学镀膜全自动监控系统---基于高精度单波长监控方式
l 镀制过程一键完成，避免了人为操作的误差，保证了成品率和镀膜结果的同一性；
l 实时显示数据包括：透/反射比，几何厚度，速率，功率，晶片状态等，计算折射率；
l 当前层的信息丰富，包括理论停点，同一监控片的理论曲线，监控片，监控波长，判停方式，极值数，膜料，膜料的折射率，膜层的几何厚度，坩埚号等；
l 具有设置监控方案功能，可以使用换监控片、监控片轮换和不换监控片等方法；
l 与晶控仪通讯功能，可以导入、导出膜系、膜料参数；
3. Filmeasurer 光学薄膜台式透反射比分光光度计
4. Filmaster光学薄膜膜系设计与分析软件
联系人：李小龙 电话：010-58051723 13693572892 传真：010-58051722
最后，再次诚邀您光临指导我们的工作！希望我们在技术等多方面有更多的合作交流，为大家的工作带来更大的收获！