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标题: K-MAC光学薄膜测厚仪 [打印本页]

作者: kmac 时间: 2007-11-8 15:07
标题: K-MAC光学薄膜测厚仪
科美仪器(昆山)研发有限公司是韩国科美公司在中国设立的分公司.
1996年以来，科美在半导体，平板显示器，电子物质，生命科学和化学分析上，研发和提供了独特的，先进的解决方案。科美，作为测量和分析技术市场上的领头和动力，从它创立以来，已经取得了非凡的发展，并以它突出的表现得到了世界范围的认可。科美一直设法关注客户的需求。我们不仅仅为我们的客户提供最好的产品和服务，我们还听取他们的意见，对他们目前的、未来预计的需求作出最快的答复。为了跟上新的挑战和机会，科美潜心研究和发展。我相信这是我们公司可以在光学核心成分， MEMS和其他许多分析设备上快速发展并不断进步的潜在动力。在我们生产研发的每一项产品上，科美努力通过显著的特色，较高的规格尤其是卓越的质量和技术来争取领先的位置。科美将不断努力为这一行业提供更多完整的测量和分析解决方案。

感谢所有的客户、伙伴和供应商在过去的时间里对我们的支持，使我们取得成功。
详情可以登陆我们的网站,也可以来电和来邮咨询.

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地址:昆山市市后街紫藤花园158号

作者: kmac 时间: 2007-11-8 15:19
厚度测量仪是在半导体，FPD(LCD/PDP), 纳米技术, 电子材料, 特殊薄膜等的研究和开发或在生产过程中测量薄膜厚度的装置。例如在半导体工程中绝缘膜，电极，保护膜等涂上许多膜或通过视觉等制作细微电路，各个膜的厚度与设计图体现的一样，半导体才会正常运转，而薄膜厚度测量仪是测量超细微膜的厚度，管理半导体样品的装置。

测量薄膜厚度有很多种方法。在很多中方法中利用探针的机械的方法，利用显微镜的方法，光学方法这三种方法是我们最经常使用的方法。

在科美购买的装备是以上三种方法中使用光学方法，在薄膜的表面利用反射光和在下部的界面反射的光之间的干涉现象或利用光的相位差来决定薄膜的特性。因此利用此方法可以测量薄膜的厚度以及照度，光学常数。特别是透明薄膜，能维持光的干涉性，那么可以测量所有种类的试剂，就算是多层薄膜，也可以根据数学计算测量各个薄膜的厚度的优点。还有不损害样品的表面，使用上简便，可以快速测量从A到数十um水准的厚度。

本装备是分析光的数值，把光的数值变换成厚度的数值的装置。使用者要熟悉使用手册，要受正确的装备教育，因使用者的不熟练光的数值错误的变换成厚度的数值时，要有正确区别数值的 True & False分析力。

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