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标题: 高精准薄膜度量软件 [打印本页]

作者: chinaecnet 时间: 2008-4-25 23:08
标题: 高精准薄膜度量软件
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品，美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者，提供专业的光学薄膜设计，材质分析，椭圆偏振/分光光度测定软件。目前SCI的光学薄膜软件有：Film Wizard™，FilmMonitor™，FilmEllipse™

Film Wizard™
市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件，集成了优化系统和综合设计功能，强大的工具箱可以进行分光镜数据和偏振光谱分析，在软件中环境中根据真实的薄膜厚度，层次结构指标进行薄膜建模。该软件支持市面上通用的光度计和偏振器的数据输入，如果客户使用专用的光度计和偏振器，SCI公司免费可为客户量身定做专用数据输入文件系统。

应用实例，目前已经有多套Film Wizard™软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下：
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生
邮件：wangdongmei@eccn.com/benchan@eccn.com

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