光电工程师社区

标题: Return Loss的测试方法 [打印本页]

作者: kubelu 时间: 2008-8-1 10:40
标题: Return Loss的测试方法
请问一下,目前回损测试比较精确的方法是怎么测的?
我们公司目前所采取的回损测试方法比较是：跳线从光源引出接一个50%的COUPLER，一端做光源输出，一端做回损线接功率计
测模块回损时是相应通道接光源，模块入光线打折，所测回损值是功率计所示数据减3。
本人认为这种方法较粗糙，请问有没更好的方法？

作者: kubelu 时间: 2008-8-2 07:24
此贴没人屌起?
是不屑还是不懂还是本人没讲清楚

作者: landau 时间: 2008-8-2 17:15
该测试方法并不粗糙. 至于测试多准, 在于你测试的器件稳定性和功率计的准确性.
测试回损多数公司用傻瓜机器, 比如jdsu的 RM3750B, 国内也有很多公司仿.

作者: aerialhorse 时间: 2008-8-15 08:33
标题: 回损测试有没有不用绕光纤的啊
现在的回损测试需要将光纤绕圈到很小，有没有什么方法将这种打圈的方式免除的方案呢？

作者: kubelu 时间: 2008-8-16 00:27
请问三楼
傻瓜机器是如何测的？原理是不是也一样
没听过这种测试仪器

作者: landau 时间: 2008-8-19 13:31
kubelu :rm3750等机器测试原理和你说的也是一样的.

另,不用打圈的回损测试也有, 如EXFO 就有生产. 原理就不同了.
不过个人觉得, 要测试准确, 不打圈方法对仪器的要求非常之高.
不建议使用. 因为过分要求的话, 一般来说机器比较难达到, 效果适得其反.

作者: dalaoxu 时间: 2008-8-24 21:29
把光纤尾端插进酒精或其他混合液中.也行吧,就不用打圈圈了.

作者: kubelu 时间: 2008-8-24 22:42
楼上,这样也可以?
原理如何解释?

作者: weijianhu 时间: 2008-8-28 11:05
标题: 回复 8# kubelu 的帖子
是光纤末端插入匹配液，是减小反射光的一种方法。

作者: landau 时间: 2008-8-29 09:11
就是用匹配液体也需要打圈，
不用打圈的匹配液体对折射率的要求有多高。
有兴趣可以计算下，你就知道可能性了。

作者: kubelu 时间: 2008-8-29 19:14
多谢各位

我再请问一下关于PDL的测试...
我们是将光源线穿过一个偏振器,通过摇偏振片来测试PDL
显然这样的测试方法不准,因为人为的因素太大
不知道各位在这方面有什么高见没?

作者: lyw719 时间: 2008-9-1 17:49
可以加绕偏器进行测试，但一般测试出的数据和用偏振片测出来的数据几乎一样的

作者: kubelu 时间: 2008-9-1 19:18
问题是偏振片需要用手摇
有什么方法可以尽量减少人为因素的影响?

作者: ilors 时间: 2008-9-24 08:42
楼上要求减小人为因素，我想可以采用程控的偏振控制器，不过成本会有大幅增加

作者: byrd_optics 时间: 2008-9-24 09:54
标题: 回复 1# kubelu 的帖子
不是简单的减个3就可以的，关键是看你光路上用的那个50%coupler本身的Dir能做到多大，如果这个Dir与待测器件的回损数量级相当的话，就要把这个Dir的具体数值计算在内了，特别在多模测试上，这个影响明显。

作者: qs1224205 时间: 2008-12-5 12:50
EXFO 的FOT-930 系列能自动测量ORL，内部结构也的确是没有打圈，用了内部探测器的。
楼主的方法好像欠妥哦。

作者: wcy309works 时间: 2010-7-7 13:00
RL的测试方法，楼主的方法是正确的，不过要看你是用全波的吗

作者: wl051214 时间: 2010-7-8 11:19
我的测试结果是只绕的话只有20多个DB，不绕才10几个DB。当然不用匹配膏的。
如果绕起来在接触匹配膏就可以有50以上的DB了

作者: nklofy 时间: 2010-7-8 12:48
打折的作用是去掉跳线端面反射，所以可以用：
1，直接换成APC的跳线。
2，加一根PC-APC跳线，APC一头空着。
3，匹配膏，端面贴上去就可以了。
都是行业标准做法。

作者: h5fhuyu 时间: 2010-9-27 22:01
哎，这些值得好好讨论

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