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标题: 若做出的IR膜测光谱时在某波长处有ripple [打印本页]

作者: fawang 时间: 2008-10-13 17:54
标题: 若做出的IR膜测光谱时在某波长处有ripple
若做出的IR膜测光谱时在某波长处有ripple,可在测光谱时调整角度测，调整15度或45度以判断是高N还是低N出了问题，镀多还是镀少？请问有这回事吗？怎样判断呀？

作者: jhxxmlhk 时间: 2008-10-13 18:00
15度测试透射率，比较和0度的时候通带透射率的变化，再用 TFC模拟下Group就知道了。

作者: fawang 时间: 2008-10-13 18:26
哈哈，猜也是这样，自己也用TFC模拟过，不过不知是自己设计膜系的原因，结果ripple几乎是在透射区的短波边缘，听说长波段也应该有的，实际没做过IR工艺处理，还没遇到这样的问题呢，所以还不清楚哈哈。大侠们谁做IR膜的，可以谈谈自己的看法嘛！

作者: jhxxmlhk 时间: 2008-10-14 09:02
做了你就知道了。

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