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标题: 新发现的问题关于膜厚仪 [打印本页]

作者: 13599929219    时间: 2009-2-5 13:55
标题: 新发现的问题关于膜厚仪
近期我们发现在一个特别怪的新问题给大家介绍一下,我们使用的是MAXTEK的膜厚仪。在镀SIO2时档板准备打开时就会出现FAIIURE报警(晶振片故障)但是一停止故障马上就好了(注:镀其它材料没有发现这个问题只镀SIO2会有这个问题)
作者: 森林小树    时间: 2009-2-6 21:07
是不是镀低折射率的出现这种问题?
作者: zzh1011    时间: 2009-2-6 21:35
楼主是说挡板还没有开吗?看看在出气时有没有打火,而引起的干扰问题。
作者: 13599929219    时间: 2009-2-7 08:15
不是说低折射率的有问题只有镀SIO2时会有这个问题。是档板打开的同时出现的。另外我们镀SIO2没有充气进去。停止的话他又恢复正常哦。
作者: 13599929219    时间: 2009-2-7 15:22
谢谢大家的加入,今天终于发现了是电子枪的二次电流引起的。




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