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标题: 薄膜测量仪F20 (美国FILMETRICS) [打印本页]

作者: clight 时间: 2009-3-6 10:16
标题: 薄膜测量仪F20 (美国FILMETRICS)
本帖最后由 clight 于 2010-9-20 10:06 编辑

产品名称：
F20 便携式膜厚测量系统

产品简介：
利用光谱反射原理,进行非接触式测量.可对薄膜厚度、n、k值进行测量.常规可测4层膜.有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm)。薄膜厚度的测量范围是： 3nm～250um，精度为0.1nm。
产品背景:
美国FILMETRICS公司成立于1995年，总部位于美国加州的圣地亚哥，是经济、快速膜厚测量系统的顶尖制造商，FILMETRICS公司的产品曾获得全美“100项重大科技成就奖”和“25项新产品奖”。产品特性：
操作简单、使用方便；
测量快速、准确；
体积小、重量轻；
价格便宜；
产品应用：
半导体行业:光阻、氧化物、氮化物；
LCD行业:液晶盒间隙厚度、 Polyimides；
光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片

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联系方式:
北京高光科技有限公司
联系人: 田小姐
E-mail: ty@clight.com.cn
电  话: 010-58816816

作者: clight 时间: 2010-9-20 10:06
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