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标题: 激光器TE-ID测试系统 [打印本页]

作者: gxf839 时间: 2009-10-25 09:23
标题: 激光器TE-ID测试系统
本帖最后由 gxf839 于 2010-9-18 09:09 编辑

TE_ID测试系统说明.pdf (537.65 KB, 下载次数: 2) 1.  系统软件支持再装配性，也就是说系统的公司徽标、系统显示的名称可以由用户来
重新装配；
2.  系统支持批量测试，也支持单只测试；
3.  系统测试速度高于 1 只/秒；
4.  系统最大驱动电流达 100mA，驱动精度达 0.5%；
5.  光功率测试范围 0.01——10mW，测试精度达 5%，稳定度达到 2%；
6.  背光电流测试范围 50——1500uA；
7.  系统支持最多达 7 个温度点的 TE 测试；
8.  系统可以多个器件逻辑单元连接，每个逻辑单元最多一次可以接插 64 只器件；系
统支持批量测试、点测、单只测试；
9.  系统支持 4个波长的测试，支持其他波长的扩展；
10.  系统支持相同器件多温度曲线的对比描绘。

如有需求，电话：13588509694。Email: gxf839@163.com, QQ:16641494

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