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标题: 上海光傲科技 [打印本页]

作者: leon-lou 时间: 2009-12-2 10:51
标题: 上海光傲科技
本帖最后由 leon-lou 于 2009-12-3 09:48 编辑

上海光傲科技股份有限公司是以光电产品为核心业务的专业代理商、服务商。专注于光电行业，
主要产品有：
1，发光测量系列：亮度、色度计，各种CCD
2，光学精密测量系列：波前测量、波相差测试、复杂光学系统对准、调校
3，光学材料：消光漆、高漫反射材料，标准色板、白板、荧光板等
4，激光器系列等
5，光学元件、红外光源等

公司国内独家代理SpotOptics公司波前测量系统和德国Teachno Team公司LMK影像式光度色度计

公司为中国客户引进关键光电器件及先进设备,并提供我们的行业经验、技术支持和咨询！公司业务覆盖整个中国大陆，并于华东（上海）、华北（北京）、华南设立相应公司或办事处。亦于香港设立公司，便于客户系统集成及免税业务操作。
如果您有兴趣欢迎浏览我公司网站，或联系我们，我们将提供更加详细的产品资料信息。
www.light-all.com
leon-lou@light-all.com

作者: sc108 时间: 2009-12-2 22:41
波前测量是什么原理的系统？

作者: leon-lou 时间: 2009-12-3 09:21
回复 2# sc108

波前测量技术采用夏克-哈特曼波前测量技术。理想的波阵面可以在CCD上得到规则的点阵分布图，而不规则的波阵面的点则在CCD上得到不规则的点阵图，通过分析点阵中每个点的质心偏移，就可以重建波前，从而得到元件表面的形貌图，或光学系统像差特性。
也就是通过一个微透镜数组，得到波前的局部斜率。从而实时测量光强、位相、像差、 PST 、 MTF 和其它参数。

Spot-Optics系列光学测量设备主要基于波前WaveFront测量技术，测量得到通过光学元件或光学系统的波阵面，并将之与理想波阵面进行比较，经过全面的泽尔尼克分析从而得到该光学元件的表面系数，光学参数以及光学系统的各种像差。

上海光傲科技

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