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标题: 基于夏克-哈特曼波前探测技术的多功能测试系统 [打印本页]

作者: leon-lou 时间: 2009-12-3 10:01
标题: 基于夏克-哈特曼波前探测技术的多功能测试系统
本帖最后由 leon-lou 于 2009-12-3 10:55 编辑

上海光傲贸易有限公司国内独家代理SpotOptics公司波前测量系统

一、夏克-哈特曼波前测量
波前测量技术采用夏克-哈特曼波前测量技术。理想的波阵面可以在CCD上得到规则的点阵分布图，而不规则的波阵面的点则在CCD上得到不规则的点阵图，通过分析点阵中每个点的质心偏移，就可以重建波前，从而得到元件表面的形貌图，或光学系统像差特性。
S-H波前测量技术广泛用于自适应光学，在天文学、激光通讯、军事上应用广泛。

二、波前测量技术VS干涉测量技术
   价格低，使用简单，维护简单                校正简单（可离线校正）
   无需隔振平台，普通桌子即可                普通干净实验室足够了
   可以在紧靠打磨机工作现场使用                普通光源和激光均可，任何波长
   软件功能不受波长和配置影响                方法本身具有高度动态性
   可以测试深度非球面元件                      可以测试非规则球面，如柱面镜

三、Spot-Optics波前测量
Spot-Optics系列光学测量设备主要基于波前WaveFront测量技术，测量得到通过光学元件或光学系统的波阵面，并将之与理想波阵面进行比较，经过全面的泽尔尼克分析从而得到该光学元件的表面系数，光学参数以及光学系统的各种像差。

四、可测试元件
  透镜非球面透镜、棱镜、球面非球面平面镜、各种滤光片、隐形眼镜眼科镜片、复杂光学系统、平视显示系统（HUD）、研磨板、晶圆（wafer)、激光等

五、测试项目
  光学失常像差测试       波前或表面重建          光学元件透过率测试    平面度测试
  楔形角测试             复杂光学系统对准       准直                   焦长测试
MTF（调制传递函数）    PSF（点扩散函数）    Strehl ratio                   激光光斑品质、光束、M2、发散角测试

六、国外部分客户
ZEISS Menicon TAMRON PENTAX KONICA MINOLTA SUMSUNG Nikon TDK Ricoh Canon FUJIFILM CHRMA NASA 等等

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作者: leon-lou 时间: 2009-12-4 12:04
Puntino天文望远镜调校系统putino波前探测系统用于天文望远镜作为离线测试和在线测试应用。也可以在实验室用于测试光学系统和元件。
Putino也作为大型天文望远镜的日常维护设备，用于望远镜日常测试、调校，修正由于支撑点应力变化、空气扰动及温度对望远镜系统造成的成像误差。
Putino的典型应用是Cassegrain焦点测试，Newtonian focus测试，已在全球著名天文台，天文望远镜制造企业广泛应用。

Lentino镜头自动光学测量系统
采用Single pass测试光路，可以测试直径0.5mm-58mm的投射型光学元件（包括非球面）及系统。具有自动像差调校功能，尤其适合数码相机镜头质量测试评价，以及生产现场在线测试，镜头装备、调校及优化。
SFERA主要用于小口径镜头离轴测试，如手机摄像镜头、非球面、数码相机镜头等。

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