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可用于分析测量如气体激光器、固体激光器、半导体激光,发光二极管,光纤 ,VCSELS的光束质量。 脉冲及连续光源都可以测量(连续光源使用扫描狭缝,CCD 阵列, 刀口等技术,可测范围从紫外直至红外CW,可测光束直径自亚微米直至几厘米)无论是准直或未准直,或者大发散角的光束,包括近场,远场, 都能提供相应仪器给出精确,高重复性,值得信赖的测量结果.
NanoScan – 具有Beamscan的所有功能,更高的光束测试精确度(不确定度小于0.5%)和更大的动态范围,同时可以测试高功率聚光激光光斑,直接测试功率密度达3.2 MWcm-2 @ 10.6um, 1.6 MWcm-2@1.06um 。 可以脉冲测试(>3KHz)。
BeamScan -- 狭逢扫描,实时光束分析仪,用于脉冲(>8KHz)和连续激光光束的测量和分析,包括光束功率、尺寸、顶角、平行度/发散度、光束的精确位置、近场轮廓、M2、高斯分布、椭圆率、线性运动平移轨迹的多点测量,以及光纤准直等等。还可进行多光束的测量和分析,实时和长时间监测光束变化,以便及时作出相应调整。提供快速,简便,精确光束分析,适用于准直,发散或聚焦的光束。可测光束范围: 4 μm to 25 mm, 波长范围: UV to FIR (190 nm -20μm)。功率范围:μW -100W
BeamProfiler -- CCD 成像光束分析仪,可用于测量脉冲或连续光束,包括光束宽度、斑心和峰值的位置、主轴和次轴、光束方位、椭圆率、偏心率、1D和2D高斯曲线、光束均匀度、光束离散度、测试点稳定性、M2、K系数、等等波长自UV 至 NIR (190 nm –2200 nm)。可测光束范围: 50 μm to 8 mm
Far-Field Profilers -- 激光辐射角测量仪,于对角辐射光的有关参数进行直接、实时和远场的测量,包括测量数值孔径、发散模式、光波导、光学元件如透镜、滤波器等的影响、单模多模光纤、发散角、角坐标、任一轴上用户指定锥角的功率等等的测量。其中的部分型号还能在很大动态范围上测量光纤MFD,Aeff,NA等参数。扫描范围:±72°,
扫描半径:84mm 。 |
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