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透明导电氧化物薄膜主要包括In、Zn、Sb和Cd的氧化物及其复合多元氧化物薄膜材料,
具有禁带宽(红外反射大于80%、紫外吸收大于85%、微波衰减大于85%)、可见光透射率高
(大于85%)和电阻率低等特性。透明导电薄膜以掺锡氧化铟(Indium Tin Oxide,ITO)
为代表,广泛地应用于平板显示、太阳能电池、特殊功能窗口涂层及其他光电器件领域。
影响ITO薄膜光电特性的工艺条件主要有掺锡浓度、热处理温度和热处理时间,在掺锡
浓度为20%(质量分数),热处理温度为450℃,热处理时间为15min条件下制备的ITO薄膜
的光电特性较好。采用上述工艺制备的ITO薄膜的方阻约为300Ω/sp,可见光平均透过率
为80%,膜厚约为25nm,电阻率约为4×10-3Ω*cm。
广州半导体材料研究所的SDY-5四探针电阻测试仪测试方电阻.
随着基片温度的升高 ,薄膜的方块电阻呈下降趋势 ,基片温度的高低对ITO薄膜方块电阻的
"大小影响很大。这是因为低温下沉积的 IT O薄膜中晶界附近堆积着大量的吸附氧 ,这些吸附氧
"
为电子陷阱捕获电子 ,而使载流子浓度降低 ,衬底温度的提高有利于薄膜吸附氧的脱附 ,从而使
"晶界缺陷数目减小 ,导致载流子浓度增大 ,使薄膜的导电性得到改善。
"
" 随着氧分压的升高 , ITO薄膜可见光透过率变化不大 ,而ITO薄膜紫外透射光谱的吸收截
"
止边带向短波长方向漂移。ITO薄膜的方阻随氧分压的升高而增大。这是由于在基片不加热的条
件下 ,在基片上吸附的氧很难脱离基片 ,使薄膜中掺有氧杂质 ,而氧分压越大 ,薄膜中氧浓度
越高。氧杂质中心对载流子的散射几率的增加导致薄膜方阻的增加。 |
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