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现向你推荐美国SCI公司的薄膜测试仪器,本公司的测试器是针对一些MEMS,薄膜测试.Measurement Features测量特征FilmTek™ 1000FilmTek™ 1500FilmTek™ 2000FilmTek™ 3000FilmTek™ 2000SEFilmTek™ 4000Index of Refraction折射指数
(at 2µm thickness) ±0.005±0.005±0.002 ±0.002±0.0002 ±0.00002 Thickness Measurement Range 厚度测量范围10nm-150mm 10nm-150mm 5nm-150mm 5nm-150mm 1Å-150mm 3nm-350mm Maximum Spectral Range 最大光谱范围380-1000nm380-1000nm190-1700nm190-1700nm190-1700nm190-1700nmStandard Spectral Range标准光谱范围380-1000nm380-1000nm240-860nm 240-860nm 240-1000nm380-1000nmReflection反射测量Transmission透射测量 Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量 Power Spectral Density功率谱密度测量Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量 Both TE TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量Index of Refraction折射系数测量Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数Energy band gap能量带隙测量 Composition成分测量 Crystallinity晶状测量 Inhomogeneous Layers非均匀层测量 Surface Roughness表面粗糙度测量 如有问题请与我们联系:0755-83342710,或:13632712541. Email:zoupuhong@chinecnet.com
祝工作愉快!
邹普红 |
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