|
|
在OLED, LCD, 半导体行业和光电行业等行业中,薄膜测量是检验产品质量的高科技手段之一。而美国SCI 公司最新开发并研究出了世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek系列产品。它的主要性能简单的说就是可测参数比一般薄膜量测多,并且安全可靠,容易装配,在现有的设备上可自由添加这种配置,方便更新。其中它得可测参数有: 1)单层或多层薄膜(可达50层),厚度 (1? to 250 um) 2)反射率R和透射率T 3)折射率n和吸收系数k 4)能带间隙 5)表面粗糙度和损伤度 6)成份和结晶程度 与了解详情请用一下方式联系:EMD (半导体设备与材料部) 电话:021-61021225 传真:021-52353710 E-mail: emdservice@ChinaECNet.com | |
- SCRIPT type=text/javascript<br><!--
- google_ad_client = "pub-7121116726295171";
- google_ad_width = 468;
- google_ad_height = 60;
- google_ad_format = "468x60_as";
- google_ad_type = "text_image";
- google_ad_channel ="";
- google_color_border = "F9F9F9";
- google_color_bg = "F9F9F9";
- google_color_link = "000000";
- google_color_url = "008000";
- google_color_text = "000000";
- //--></SCRIPT>
-
- <SCRIPT src="http://pagead2.googlesyndication.com/pagead/show_ads.js" type=text/javascript>
- <br>/script
复制代码
| | |
|