椭偏仪测量问题讨论

 
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发表于 2008-10-24 15:55:29|山东 | 查看全部 阅读模式
利用椭偏仪测的两个参量,大家一般用什么软件拟合?
我在用FILMWIZARD分析时候遇到这样一个问题:计算膜厚时,输入不同的初始值,结果相差很大,不知为什么?如输入80nm,计算结果81nm,输入100nm,计算结果102nm。请教了。

回复|共 3 个

uujinlog Lv.6 发表于 2008-10-29 16:39:04|上海 | 查看全部
http://ellipsometer.5d6d.com/bbs.php
这里有个椭偏仪论坛,你可以到这里去问问
uujinlog Lv.6 发表于 2008-10-29 18:13:43|上海 | 查看全部
到这个论坛里去问问

http://ellipsometer.5d6d.com/bbs.php
armyzhou Lv.2 发表于 2011-1-3 20:00:48|湖南 | 查看全部
不晓得这个软件的算法是什么,要是非线性拟合,这个就是难免的了。曾经用遗传算法写过一个程序,能在稍大一点的范围能寻优。
PS:一般要测量薄膜系数都是自己大概略知的前提下的,要是刻意去追求一无所知前提下的数据拟合,恐怕比较困难,不晓得算不算得上是个光学难题哦!

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