紧急求救！！！

各位大虾：小弟刚刚入行，啥也不懂，现有问题想请教。不知各位谁用过Flimetrics利用光谱分析测膜厚的仪器（F30）?我们想了解一下此仪器能否解决下述问题：
  1 计划用在真空涂层上，工件为圆柱形的非金属材料，涂层材料是有机透明绝缘材料（Paryline C),以分子颗粒沉积在真空涂层室内的任何物体上。工件在真空涂层室内转动，但无基准点。问题是能否对工件直接测量？（把探头放在真空室内）
  2 真空室备有玻璃观察窗，能否把探头安装在观察窗上对工件上的涂层厚度直接测量？
  3 如不采取措施，玻璃观察窗也将被涂上一层薄膜，是否测量构成影响？
  4 若直接测量有困难，也可以采用间接测量方法，在涂层室内放置样板，测量样板上的涂层厚度。样板的材料可任选，这样的方法是否可行？
  5 被测量物体与探头间的距离有何要求？
  6 涂膜厚度在210微米以下，涂膜为透明体；精度一般都能满足要求。
  7 有无其它更好的解决方法？
谢谢了！万分感谢了！

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