[讨论] PLC对光后测试发现很多IL参数都只是比规格大0.1到0.4dB,一般是什么原因引起的?

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发表于 2011-8-9 16:37:19|中国 | 查看全部 阅读模式
最近我们所生产的PLC器件,对光后测试发现,有好些IL值只是比SPEC大0.1---0.4dB;通红光分析这些不合格品,一般也看不出具体失效原因。我们对光只是监测FA最外面两根线,

以1X16来说,我们的规格是IL<13.6dB;但好些测试结果为13.6到14.0之间,不合格的95%都集中在这个范围。是什么原因?有哪些原因?FA CHIP没清洗好?UV没固化好?我们下架度监控,最外纤IL没变化的。但测试就不合格了,偏大一点点。
请高手分析一下!

回复|共 5 个

liluplanet 发表于 2011-8-9 21:21:36|上海 | 查看全部
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zuoxueting Lv.7 发表于 2011-8-10 08:24:06|江苏 | 查看全部
是不是FA的光纤间距有问题啊!
phwangshadow Lv.7 发表于 2011-9-5 10:33:14|广东 | 查看全部
光源是不是有问题?自身功率就有偏差了。一般测试都要考虑到设备误差的
50502 Lv.3 发表于 2012-1-3 20:36:45|江苏 | 查看全部
1.生产工艺问题,需要请有经验的工程师
2.芯片问题,你们用的是什么芯片
husmile Lv.2 发表于 2012-1-30 23:18:45|北京 | 查看全部
如果耦合时,监测IL没问题的话;多半是胶的问题。

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