探测器线性度测量

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发表于 2008-6-16 09:31:43|北京 | 查看全部 阅读模式
探测器线性度测量主要包括直接测量和间接测量
直接测量法(叠加法)
   优点:原理简单、可靠,误差源清晰
   缺点:测量过程复杂且测量时间长
间接测量法
   优点:测量速度快,过程简单
   缺点:误差源复杂,其它物理量测量中的误差可作为明显的非线性出现
间接测量法主要包括:
(1)距离平方比反比法
(2)滤光片组合法
(3)比尔衰减器法
(4)偏振片法
现在没有头绪,看到别人做的都是自动测试系统而且光学透镜都有10来个
我是机械专业的见到这么多光学上的东西心里就更没有底了
不知有哪位大侠做过线性度测量,肯请指点一下,谢谢

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