请教高手、可以用“有限元法”分析光学零件吗？

可以用“有限元成像的方法”来分析光学元件材料及零件的要求吗？如表面疵病、局部光圈、膜层不均匀性的影响等。
标准是什么：像面的杂散光斑还是每一面有限元的成像位置？
虚像如何考虑？
要分析照度吗？
能否从像差上来看？
杂散光呢？

仔细的研究光学零件要求对成像质量的影响其实仍然是光学设计软件的工作，但是各种软件有偏重，比如codev 可以将nastran 等有限元软件计算的机械及热变形加载到光学系统的分析中，asap和zemax也可以做杂散光的分析，等等，但是对于一个比较简单而预算不宽裕的项目，怎么多工作将会使你超支，而且也没有必要，因此可以使用现成设计的经验就可以满足要求。当然如果这些工作都比较快就另当别论了。不对之处请指正。

谢谢！
现在具体涉及到一个非常复杂的小球面光学系统，由于它的像差要求高，因此，正确判断每一面的光圈等就变得非常迫切和必要了————这恰好可以正确的在预算内得到一个好的实际的产品————在ZEMAX中有没有很合适的较快的方法呢？
现成设计的经验能比数据有说服力吗？
请指教。

不懂，关于你要做的工作请解释的清楚点