与宏观机械结构一样,MEMS动态测试包括振动激励、振动测量和模态分析等三个基本环节。通过某种激励力作用在被测MEMS器件上,使其产生振动响应,通过测量激励和响应,进而确定MEMS器件的固有频率等模态参数,从而建立或验证MEMS器件的理论模型,并通过结合有限元方法和CAD技术,最终指导MEMS器件的结构优化设计。尽管扫描隧道显微镜(STM,scanning tunneling microscope)和原子力显微镜(AFM,atomic force microscope)的发明解决了原子级尺度的测量问题,但由于这些测量只能在静态环境下进行,因而只能获取MEMS和其它微结构的静态几何尺寸和表面形貌等参数,而无法胜任MEMS在高频高速运动下的动力学特性测试。