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标题: PLC对光后测试发现很多IL参数都只是比规格大0.1到0.4dB,一般是什么原因引起的？ [打印本页]

作者: www_awei 时间: 2011-8-9 16:37
标题: PLC对光后测试发现很多IL参数都只是比规格大0.1到0.4dB,一般是什么原因引起的？
最近我们所生产的PLC器件，对光后测试发现，有好些IL值只是比SPEC大0.1---0.4dB;通红光分析这些不合格品，一般也看不出具体失效原因。我们对光只是监测FA最外面两根线，

以1X16来说，我们的规格是IL<13.6dB;但好些测试结果为13.6到14.0之间，不合格的95%都集中在这个范围。是什么原因？有哪些原因？FA CHIP没清洗好？UV没固化好？我们下架度监控，最外纤IL没变化的。但测试就不合格了，偏大一点点。
请高手分析一下！

作者: liluplanet 时间: 2011-8-9 21:21
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作者: zuoxueting 时间: 2011-8-10 08:24
是不是FA的光纤间距有问题啊！

作者: phwangshadow 时间: 2011-9-5 10:33
光源是不是有问题？自身功率就有偏差了。一般测试都要考虑到设备误差的

作者: 50502 时间: 2012-1-3 20:36
1.生产工艺问题，需要请有经验的工程师
2.芯片问题，你们用的是什么芯片

作者: husmile 时间: 2012-1-30 23:18
如果耦合时，监测IL没问题的话；多半是胶的问题。

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