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标题: 影响pin探测器工作速率的技术指标、测试方法及原理分析 [打印本页]

作者: zhuhongyu76 时间: 2009-10-14 13:00
标题: 影响pin探测器工作速率的技术指标、测试方法及原理分析
本帖最后由 zhuhongyu76 于 2009-10-14 13:10 编辑

探测器这大家都很熟悉，但是探测器的工作速率，可能大家都知道，但是具体的原理和物理结构上大家能够详细的说明吗？可能大家知道的就是结电容、响应度、带宽（-3dBm）、过载等指标，但是否有其他的指标，通过什么样的测试方法保证上述指标，通过什么样的参数测试保证上述技术指标？最好说明机理！！！请高手指导一下啊！

作者: jieweili 时间: 2009-10-17 17:23
我觉得除了你说的这些指标外还有暗电流、灵敏度，如果是APD的话还有倍增因子等指标

作者: zhuhongyu76 时间: 2009-12-23 17:14
我只说影响工作速率的参数，不是说影响灵敏度的参数。

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